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Hochauflösendes Zweistrahlgerät FIB SEM für die Chipanalyse

Bundesrepublik Deutschland, vertreten durch das Beschaffungsamt des BMI · Bonn, Nordrhein-Westfalen

Aktenzeichen ZIB 22.33 - 0738/22/VV : 1veröffentlicht 19.05.2023LieferleistungenOffenes Verfahren

Frist im Verfahrenseit 1325 Tagen abgelaufen

Dieses Verfahren ist abgeschlossen oder älter. Die Seite bleibt zur Information erreichbar.

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Offene Ausschreibungen derselben Leistung im Gebiet Bonn.

Alle Ausschreibungen: Labor- und Messgeräte in Nordrhein-Westfalen (35 offen)

Auf einen Blick

Art des Auftrags
Lieferleistungen
Geschätzter Wert
keine Angabe
Laufzeit
keine Angabe
Lose
1
Verfahren
Offenes VerfahrenEU-weit
Rahmenvereinbarung
keine Angabe
Ort der Leistung
Bonn53119, Nordrhein-Westfalen
Einreichung
keine Angabe
Diese Bekanntmachung ist eine Kurzmeldung. Laufzeit, Lose, Eignungs- und Zuschlagskriterien stehen nur in den Unterlagen auf der Vergabeplattform.

Einordnungvon uns ausgewertet

Wer darf bieten?

Alle interessierten Unternehmen dürfen ein Angebot abgeben.

Wird verhandelt?

Es wird nicht verhandelt. Gewertet wird das Angebot so, wie es eingereicht wurde.

Was jetzt zu tun ist

Kein Angebot mehr möglich. Wer gewonnen hat und wie viele Angebote eingingen, steht unter Zuschläge; für Folgeaufträge lohnt der Blick auf Laufzeit und Vergabestelle.

Das Verfahren ist abgeschlossen; diese Meldung nennt das Ergebnis.

Sie erhält im Median 3 Angebote je Los (5 Lose mit Angabe).

Wertung laut Bekanntmachung: Preis 100 %, Leistung und Qualität 0 %.

Unterlagen schon heruntergeladen? Vergabeunterlagen prüfen (Team): Fristen, Gewichtung, Mengen, Zertifikate und Fehler im Preisblatt.

Fristen und TermineStand 08.11.2026

  1. Veröffentlichung
    vor 42 Monaten
  2. Heute

Beschreibung

Lieferung eines Zweistrahlgeräts zur FIB / SEM für die Chipanalyse

Beschreibung des Loses

Lieferung von 1 Stück Zweistrahlgerät zur FIB / SEM für die Chipanalyse mit Instandhaltungsverpflichtung über 5 Jahre.

Gegenstand nach CPV

Zuschläge

Zuschläge je Los
Zuschlag anAngebote
FEI Deutschland GmbH–

AuftraggeberZur Seite der Vergabestelle

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Marktumfeldvon uns ausgewertet

Vergabemeldungen der letzten 24 Monate mit Hauptgegenstand CPV 385 (Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen) in Nordrhein-Westfalen. Abgeleitet aus veröffentlichten Bekanntmachungen, keine amtliche Statistik. Zuschlagswerte unter 1.000 € zählen wir als Platzhalter nicht mit.

207vergebene Aufträge
1Angebote je Los im Median (109 Lose mit Angabe)
311.967 €Zuschlagswert im Median
221.000 € – 618.840 €mittlere Hälfte, 49 Werte

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Preise und WettbewerbPremium

Verlauf des Verfahrens2 Meldungen

  1. Vergabebekanntmachung (diese Seite)
  2. MeldungFrist 23.03.2023

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Quelle: Bekanntmachungsservice des Bundes (oeffentlichevergabe.de), Lizenz CC0. Stand der Daten: 04.11.2026. Maßgeblich ist allein die Originalbekanntmachung. Kennung e52354e9-c295-421b-9a9b-c9da53241603.