Hochauflösendes Zweistrahlgerät FIB SEM für die Chipanalyse
Bundesrepublik Deutschland, vertreten durch das Beschaffungsamt des BMI · Bonn, Nordrhein-Westfalen
Aktenzeichen ZIB 22.33 - 0738/22/VV : 1veröffentlicht 10.02.2023LieferleistungenOffenes Verfahren
- Laufzeit
- 72 Monate
- Verfahren
- Offenes Verfahren
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Offene Ausschreibungen derselben Leistung im Gebiet Bonn.
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Alle Ausschreibungen: Labor- und Messgeräte in Nordrhein-Westfalen (35 offen)
Auf einen Blick
- Art des Auftrags
- Lieferleistungen
- Geschätzter Wert
- ?keine Angabe
- Laufzeit
- 72 Monate
- Lose
- 1
- Verfahren
- Offenes VerfahrenEU-weit
- Rahmenvereinbarung
- nein
- Ort der Leistung
- Bonn53119, Nordrhein-Westfalen
- Einreichung
- elektronisch: Erforderlichevergabe-online.de
Einordnungvon uns ausgewertet
Alle interessierten Unternehmen dürfen ein Angebot abgeben.
Es wird nicht verhandelt. Gewertet wird das Angebot so, wie es eingereicht wurde.
Unterlagen auf der Vergabeplattform abrufen und das Angebot vollständig bis zur Angebotsfrist abgeben.
Sie erhält im Median 3 Angebote je Los (5 Lose mit Angabe).
Wertung laut Bekanntmachung: Preis 100 %, Leistung und Qualität 0 %.
Unterlagen schon heruntergeladen? Vergabeunterlagen prüfen (Team): Fristen, Gewichtung, Mengen, Zertifikate und Fehler im Preisblatt.
Fristen und TermineStand 08.11.2026
- Veröffentlichungvor 45 Monaten
- Angebotsfrist 11:30 Uhrvor 44 Monatennur elektronisch über evergabe-online.de
- Öffnung der Angebote 11:31 Uhrvor 44 Monaten
- Heute
Beschreibung
Lieferung eines Zweistrahlgeräts zur FIB / SEM für die Chipanalyse
Beschreibung des Loses
Lieferung von 1 Stück Zweistrahlgerät zur FIB / SEM für die Chipanalyse mit Instandhaltungsverpflichtung über 5 Jahre.
Gegenstand nach CPV
- 38511000ElektronenmikroskopeHauptgegenstand
AuftraggeberZur Seite der Vergabestelle
- Art
- Zentrale Regierungsbehörde, Allgemeine öffentliche Verwaltung
- Anschrift
- 53119 Bonn
- Kontakt
- ?keine Angabe
Bei uns erfasst
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Marktumfeldvon uns ausgewertet
Vergabemeldungen der letzten 24 Monate mit Hauptgegenstand CPV 385 (Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen) in Nordrhein-Westfalen. Abgeleitet aus veröffentlichten Bekanntmachungen, keine amtliche Statistik. Zuschlagswerte unter 1.000 € zählen wir als Platzhalter nicht mit.
Mehr Marktdaten, Vergabestellen und offene Ausschreibungen: Labor- und Messgeräte in Nordrhein-Westfalen (35 offen)
Häufige Zuschlagsempfänger
- Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH8 Zuschläge
- Leica Mikrosysteme Vertrieb GmbH6 Zuschläge
- Nikon Europe B.V. Zweigniederlassung Deutschland5 Zuschläge
- KEYENCE DEUTSCHLAND GmbH4 Zuschläge
- Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH3 Zuschläge
- Hitachi High-Tech Europe GmbH3 Zuschläge
Preise und WettbewerbPremium
Verlauf des Verfahrens2 Meldungen
- Vergabebekanntmachung
- Meldung (diese Seite)Frist 23.03.2023
Berichtigte Fassungen bleiben aufrufbar. Die Suche zeigt je Verfahren nur die aktuelle.
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Quelle: Bekanntmachungsservice des Bundes (oeffentlichevergabe.de), Lizenz CC0. Stand der Daten: 04.11.2026. Maßgeblich ist allein die Originalbekanntmachung. Kennung 889a55e5-d2fe-493a-8ba5-e92e1b2b3512.