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vergebenEU-weitLabor- und MessgeräteLieferleistungen

Analytisches Hochleistungs-FE-REM mit Hoch- und Niedrigauflösung für Abbildung, EBSD (TKD) und EDX im Hoch- sowie Niedrigvakuum

Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) · Berlin, Berlin

Aktenzeichen 22/23veröffentlicht 15.09.2023LieferleistungenOffenes Verfahren

Frist im Verfahrenseit 1202 Tagen abgelaufen

Dieses Verfahren ist abgeschlossen oder älter. Die Seite bleibt zur Information erreichbar.

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Offene Ausschreibungen derselben Leistung im Gebiet Berlin.

Alle Ausschreibungen: Labor- und Messgeräte in Berlin (13 offen)

Auf einen Blick

Art des Auftrags
Lieferleistungen
Geschätzter Wert
keine Angabe
Laufzeit
keine Angabe
Lose
1
Verfahren
Offenes VerfahrenEU-weit
Rahmenvereinbarung
keine Angabe
Ort der Leistung
Berlin12200, Berlin
Einreichung
keine Angabe
Diese Bekanntmachung ist eine Kurzmeldung. Laufzeit, Lose, Eignungs- und Zuschlagskriterien stehen nur in den Unterlagen auf der Vergabeplattform.

Einordnungvon uns ausgewertet

Wer darf bieten?

Alle interessierten Unternehmen dürfen ein Angebot abgeben.

Wird verhandelt?

Es wird nicht verhandelt. Gewertet wird das Angebot so, wie es eingereicht wurde.

Was jetzt zu tun ist

Kein Angebot mehr möglich. Wer gewonnen hat und wie viele Angebote eingingen, steht unter Zuschläge; für Folgeaufträge lohnt der Blick auf Laufzeit und Vergabestelle.

Das Verfahren ist abgeschlossen; diese Meldung nennt das Ergebnis.

Bei dieser Vergabestelle vergehen von der ersten Meldung bis zum Ergebnis im Mittel 80 Tage (11 Verfahren, 24 Monate).

Sie erhält im Median 1 Angebot je Los (4 Lose mit Angabe).

Die Gewichtung von Preis und Leistung steht nicht in der Bekanntmachung, nur in den Vergabeunterlagen.

Unterlagen schon heruntergeladen? Vergabeunterlagen prüfen (Team): Fristen, Gewichtung, Mengen, Zertifikate und Fehler im Preisblatt.

Fristen und TermineStand 08.11.2026

  1. Veröffentlichung
    vor 38 Monaten
  2. Heute

Beschreibung

Analytisches Hochleistungs-FE-REM mit Hoch- und Niedrigauflösung für Abbildung, EBSD (TKD) und EDX im Hoch- sowie Niedrigvakuum gemäß Leistungsbeschreibung und Vergabeunterlagen

Gegenstand nach CPV

Zuschläge

Zuschläge je Los
Zuschlag anAngebote
Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH–

AuftraggeberZur Seite der Vergabestelle

Name
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Art
Zentrale Regierungsbehörde, Sozialwesen
Anschrift
12200 Berlin
Kontakt
keine Angabe

Bei uns erfasst

209Bekanntmachungen
44Zuschlagsmeldungen

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Marktumfeldvon uns ausgewertet

Vergabemeldungen der letzten 24 Monate mit Hauptgegenstand CPV 385 (Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen) in Berlin. Abgeleitet aus veröffentlichten Bekanntmachungen, keine amtliche Statistik. Zuschlagswerte unter 1.000 € zählen wir als Platzhalter nicht mit.

26vergebene Aufträge
1Angebote je Los im Median (26 Lose mit Angabe)
–Zuschlagswert bei nur 7 Meldungen plausibel angegeben

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Häufige Zuschlagsempfänger

Preise und WettbewerbPremium

Verlauf des Verfahrens2 Meldungen

  1. Vergabebekanntmachung (diese Seite)
  2. BekanntmachungFrist 24.07.2023

Berichtigte Fassungen bleiben aufrufbar. Die Suche zeigt je Verfahren nur die aktuelle.

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Quelle: Bekanntmachungsservice des Bundes (oeffentlichevergabe.de), Lizenz CC0. Stand der Daten: 04.11.2026. Maßgeblich ist allein die Originalbekanntmachung. Kennung 371d2ae4-2faf-4d2f-95f5-36766d55c686.