Test head with cards and manipulator - PR876327-2440-P
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. · München, Bayern
Aktenzeichen PR876327-2440-Pveröffentlicht 24.02.2025LieferleistungenOffenes Verfahren
- Laufzeit
- 9 Monate
- Verfahren
- Offenes Verfahren
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Offene Ausschreibungen derselben Leistung im Gebiet München.
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Alle Ausschreibungen: Labor- und Messgeräte in Bayern (31 offen)
Auf einen Blick
- Art des Auftrags
- Lieferleistungen
- Geschätzter Wert
- ?keine Angabe
- Laufzeit
- 9 Monate
- Lose
- 1
- Verfahren
- Offenes VerfahrenVgV, EU-weit
- Rahmenvereinbarung
- nein
- Einreichung
- elektronisch: Zulässigvergabe.fraunhofer.de
Schnellprüfung für Bieter
- Unterlagen frei zugänglichja
- Elektronische Einreichung verpflichtendnein
- Nebenangebote zugelassennein
- Mehrere Hauptangebote zugelassenja
- Laut Auftraggeber für KMU geeignetnein
- ?Sicherheiten verlangtkeine Angabe
- Teilnahme vorbehalten (z. B. Werkstätten)nein
- E-Rechnung verpflichtendnein
- ?Vertraulichkeitserklärung verlangtkeine Angabe
- Elektronische Auktionnein
- Aus EU-Mitteln finanziertja
- Wiederkehrender Auftragnein
Einordnungvon uns ausgewertet
Alle interessierten Unternehmen dürfen ein Angebot abgeben.
Es wird nicht verhandelt. Gewertet wird das Angebot so, wie es eingereicht wurde.
Unterlagen auf der Vergabeplattform abrufen und das Angebot vollständig bis zur Angebotsfrist abgeben.
Bei dieser Vergabestelle vergehen von der ersten Meldung bis zum Ergebnis im Mittel 87 Tage (60 Verfahren, 24 Monate).
Sie erhält im Median 2 Angebote je Los (131 Lose mit Angabe).
Wertung laut Bekanntmachung: Preis 35 %, Leistung und Qualität 65 %.
- Technische Ausführung60 %
- Lieferzeit5 %
- Preis35 %
Unterlagen schon heruntergeladen? Vergabeunterlagen prüfen (Team): Fristen, Gewichtung, Mengen, Zertifikate und Fehler im Preisblatt.
Das kostet etwa 5,8 von 100 Punkten der Gesamtwertung.
| 10 % teurer | −3,2 Punkte |
| 25 % teurer | −7 Punkte |
| 50 % teurer | −11,7 Punkte |
| 100 % teurer | −17,5 Punkte |
Annahme: Preispunkte = günstigstes Angebot geteilt durch das eigene. Die verbindliche Formel steht in den Vergabeunterlagen.
Fristen und TermineStand 07.11.2026
- Veröffentlichungvor 20 Monaten
- Angebotsfrist 12:00 Uhrvor 19 Monatenüber vergabe.fraunhofer.de
- Heute
Beschreibung
Test head with cars and manipulator
Beschreibung des Loses
1 Piece.
This specification describes the requirements for a semiconductor test system to be used for characterization and test of sensor ICs at the Fraunhofer IIS. The system must provide intefaces that allow connection with a wafer probing system and a Pick-and-Place handler. The system has to be compatible in Hard- and Software to an already existing Advantest V93000 test system in the Fraunhofer-Gesellschaft.
Options
Installation Conditions AC voltage (preferred specification) Supply-Channels (High Power) Channel count Extendable to at least Supply-Channels (High Power) Extendable voltage range capability per channel (continuous) Supply-Channels (High Power) Extendable voltage range capability per channel (continuous) Supply-Channels (High Resolution) Channel count extendable to at least AWG/Digitizer (High Resolution) AWG Channel count extendable to at least (single-ended/differential) AWG/Digitizer (High Resolution) Digitizer Channel count extendable to at least (single-ended/differential) AWG/Digitizer (High Speed) AWG Channel count extendable to at least (single-ended/differential) AWG/Digitizer (High Speed) Digitizer Channel count extendable to at least (single-ended/differential) Utility I2C-Interface Utility SPI-Interface Interface Cable interface to Pick-and-Place handler interface board: Ability for establishing an appropiate cable interface meeting all other specifications of this document Interface Supplier can provide stiffener for testhead interface for PCB (which has to be developed after acquiring an ATE-system) Manipulator Angle of test head swing in floor plane (additional swing headroom) Additional Requirements Calibration can be done without dissassembling of test head from a wafer prober or a Pick-and-Place handler
Gegenstand nach CPV
- 38552000Elektronische MessgeräteHauptgegenstand
Bedingungen
Zuschlag2 von 2 angegeben
- Qualität
- Technische Ausführung
- Qualität
- Lieferzeit
Eignung6 von 6 angegeben
- Kriterium
- genannt
- Kriterium
- genannt
- Kriterium
- genannt
- Kriterium
- Direktlink auf Dokument mit Eignungskriterien (URL): https://vergabe.fraunhofer.de/NetServer/SelectionCriteria/54321-Tender-1946f9bb3e6-17469ae8fbb449bb
- Nachreichen von Unterlagen
- Die Nachforderung von Erklärungen, Unterlagen und Nachweisen ist nicht ausgeschlossen.
- Ausschlussgründe
- Rein nationale Ausschlussgründe
Laufzeit und Umfang2 von 6 angegeben
- Vertragsbeginn
- ?keine Angabe
- Vertragsende
- ?keine Angabe
- Dauer
- 9 Monate
- Verlängerung
- ?keine Angabe
- Optionen
- ?keine Angabe
- Rahmenvereinbarung
- nein
Angebot und Einreichung6 von 9 angegeben
- Elektronische Einreichung
- Zulässig
- Einreichung über
- vergabe.fraunhofer.de
- Sprache
- Deutsch, Englisch
- Nebenangebote
- Nicht zulässig
- Mehrere Hauptangebote
- Zulässig
- Elektronischer Katalog
- Nicht zulässig
- Bindefrist
- ?keine Angabe
- Angebotsöffnung
- ?keine Angabe
- Sicherheiten
- ?keine Angabe
Ausführung6 von 7 angegeben
- Ausführungsbedingungen
- Leistung: Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter "Ausschreibungsbedingungen" aufgeführten Eignungskriterien nachzuweisen. Ferner ist zu bestätigen, dass sie im Auftragsfall zur Verfügung stehen; deren Anteil am Umfang des Auftragsgegenstandes ist darzulegen.
- Vertraulichkeit
- ?keine Angabe
- E-Rechnung
- Zulässig
- Elektronische Bestellung
- wird nicht genutzt
- Elektronische Zahlung
- wird nicht genutzt
- Vorbehaltene Ausführung
- Nein
- EU-Mittel
- Auftragsvergabeprojekt ganz oder teilweise aus EU-Mitteln finanziert
Rechtsschutz3 von 3 angegeben
- Nachprüfungsstelle
- Kaiser-Friedrich-Straße 16, 53113 Bonn
- Fristen für Nachprüfungsanträge
Ein Nachprüfungsantrag ist unzulässig, soweit mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 4 GWB). Ein Nachprüfungsantrag ist zudem unzulässig, wenn der Zuschlag erfolgt ist, bevor die Vergabekamm … ganz lesenkürzer
Ein Nachprüfungsantrag ist unzulässig, soweit mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 4 GWB). Ein Nachprüfungsantrag ist zudem unzulässig, wenn der Zuschlag erfolgt ist, bevor die Vergabekammer den Auftraggeber über den Antrag auf Nachprüfung informiert hat (§§ 168 Abs. 2 Satz 1, 169 Abs. 1 GWB). Die Zuschlagserteilung ist möglich 15 Kalendertage nach Absendung der Bieterinformation nach § 134 Abs. 1 GWB. Wird die Information auf elektronischem Weg oder per Fax versendet, verkürzt sich die Frist auf zehn Kalendertage (§ 134 Abs. 2 GWB). Die Frist beginnt am Tag nach der Absendung der Information durch den Auftraggeber; auf den Tag des Zugangs beim betroffenen Bieter und Bewerber kommt es nicht an. Die Zulässigkeit eines Nachprüfungsantrags setzt ferner voraus, dass die geltend gemachten Vergabeverstöße 10 Kalendertage nach Kenntnis gegenüber dem Auftraggeber gerügt wurden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 1 GWB). Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, müssen spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 2 GWB) . Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, müssen spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden (§ 160 Abs. 3 Satz 1 Nr. 3 GWB).- Beschaffungsübereinkommen (GPA)
- fällt darunter
Keine Angabe passt zu diesem Suchbegriff.
Bezeichnungen aus den amtlichen eForms-Codelisten (EU und eForms-DE). Maßgeblich sind die Vergabeunterlagen.
AuftraggeberZur Seite der Vergabestelle
- Anschrift
- Hansastraße 27c, 80686 München
- Website
- vergabe.fraunhofer.de
- Kontakt
- einkauf@
zv.fraunhofer.de
Bei uns erfasst
- Bereitstellung und Betrieb eines dedizierten NVIDIA-DGX-H100-Systems06.11.2026
- Lizenzverlängerung Atlassian-Software27.10.2026
- Ausschreibung Gebäudereinigung - Fraunhofer Institut (IMS)23.10.2026 · 9 Angebote
- Batteriezellenentsorgung24.09.2026 · 1 Angebot
Marktumfeldvon uns ausgewertet
Vergabemeldungen der letzten 24 Monate mit Hauptgegenstand CPV 385 (Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen) in Bayern. Abgeleitet aus veröffentlichten Bekanntmachungen, keine amtliche Statistik. Zuschlagswerte unter 1.000 € zählen wir als Platzhalter nicht mit.
Mehr Marktdaten, Vergabestellen und offene Ausschreibungen: Labor- und Messgeräte in Bayern (31 offen)
Häufige Zuschlagsempfänger
- Nikon Europe B.V. Zweigniederlassung Deutschland5 Zuschläge
- Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH4 Zuschläge
- Keysight Technologies4 Zuschläge
- ATV Systems GmbH3 Zuschläge
- JEOL (Germany) GmbH3 Zuschläge
- Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG3 Zuschläge
Preise und WettbewerbPremium
Verlauf des Verfahrens2 Meldungen
- Vergabebekanntmachung
- Bekanntmachung (diese Seite)Frist 27.03.2025
Berichtigte Fassungen bleiben aufrufbar. Die Suche zeigt je Verfahren nur die aktuelle.
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- Automatisiertes Multi-Platten-Lebendzell-Imaging-SystemTechnische Universität MünchenFrist 16.11.2026
- Shaker-Gleittisch-Kombination - PR1278269-2060-WFraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12Frist 17.11.2026
Quelle: Bekanntmachungsservice des Bundes (oeffentlichevergabe.de), Lizenz CC0. Stand der Daten: 04.11.2026. Maßgeblich ist allein die Originalbekanntmachung. Kennung e5a93389-1712-474f-9e34-f6fb15a81474.