Rasterelektronenmikroskop - PR482124-2070-W
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 · München, Bayern
Aktenzeichen PR482124-2070-Wveröffentlicht 27.05.2024LieferleistungenOffenes Verfahren
- Verfahren
- Offenes Verfahren
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Alle Ausschreibungen: Labor- und Messgeräte in Bayern (31 offen)
Auf einen Blick
- Art des Auftrags
- Lieferleistungen
- Geschätzter Wert
- ?keine Angabe
- Laufzeit
- ?keine Angabe
- Lose
- 1
- Verfahren
- Offenes VerfahrenVgV, EU-weit
- Rahmenvereinbarung
- nein
- Einreichung
- ?keine Angabe
Schnellprüfung für Bieter
- ?Unterlagen frei zugänglichkeine Angabe
- ?Elektronische Einreichung verpflichtendkeine Angabe
- ?Nebenangebote zugelassenkeine Angabe
- ?Mehrere Hauptangebote zugelassenkeine Angabe
- ?Laut Auftraggeber für KMU geeignetkeine Angabe
- ?Sicherheiten verlangtkeine Angabe
- ?Teilnahme vorbehalten (z. B. Werkstätten)keine Angabe
- ?E-Rechnung verpflichtendkeine Angabe
- ?Vertraulichkeitserklärung verlangtkeine Angabe
- Elektronische Auktionnein
- Aus EU-Mitteln finanziertnein
- ?Wiederkehrender Auftragkeine Angabe
Einordnungvon uns ausgewertet
Alle interessierten Unternehmen dürfen ein Angebot abgeben.
Es wird nicht verhandelt. Gewertet wird das Angebot so, wie es eingereicht wurde.
Kein Angebot mehr möglich. Wer gewonnen hat und wie viele Angebote eingingen, steht unter Zuschläge; für Folgeaufträge lohnt der Blick auf Laufzeit und Vergabestelle.
Das Verfahren ist abgeschlossen; diese Meldung nennt das Ergebnis.
Bei dieser Vergabestelle vergehen von der ersten Meldung bis zum Ergebnis im Mittel 82 Tage (352 Verfahren, 24 Monate).
Sie erhält im Median 1 Angebot je Los (750 Lose mit Angabe).
Wertung laut Bekanntmachung: Preis 35 %, Leistung und Qualität 65 %.
- TECHNISCHE AUSFÜHRUNG65 %
- Preis35 %
Unterlagen schon heruntergeladen? Vergabeunterlagen prüfen (Team): Fristen, Gewichtung, Mengen, Zertifikate und Fehler im Preisblatt.
Das kostet etwa 5,8 von 100 Punkten der Gesamtwertung.
| 10 % teurer | −3,2 Punkte |
| 25 % teurer | −7 Punkte |
| 50 % teurer | −11,7 Punkte |
| 100 % teurer | −17,5 Punkte |
Annahme: Preispunkte = günstigstes Angebot geteilt durch das eigene. Die verbindliche Formel steht in den Vergabeunterlagen.
Fristen und TermineStand 07.11.2026
- Veröffentlichungvor 29 Monaten
- Heute
Beschreibung
Rasterelektronenmikroskop
Beschreibung des Loses
Für die aktuelle und zukünftige Materialentwicklung am ICT wird ein sehr vielseitiges REM benötigt mit zum einen sehr hohen Auflösungen bei niedrigen Beschleunigungsspannungen, möglichst kleiner Vergrößerung für "One shot"-Übersichtsbilder großer Proben und zum anderen mit einer möglichst großen Probenkammer für zusätzliche Probenhalter (z.B. in-situ Zug-Druck-Modul, Heiz-Kühl-Modul). Für vakuum-empfindliche Polymerschäume und Proben, welche stark zu elektrischen Aufladungen neigen, wird ein Modus zum Arbeiten mit variablen Kammerdrücken benötigt. Als zusätzliche analytische Methoden werden die Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX) und die Elektronenrückstreubeugung (EBSD) benötigt. Die analytischen Detektoren sollten besonders für sehr strahlsensitive Materialien (z.B. Explosivstoffe) geeignet sein (wie z.B. große Detektorfläche, hohe Zählraten und das Arbeiten bei möglichst niedrigen Stromdichten). Hohe Auflösungen müssen ohne das Anlegen eines elektrischen Gegenfelds erreicht werden, da sehr regelmäßig Proben mit starker Topografie (z.B. faserverstärkte polymere Bruchproben) untersucht werden, komplexe Probenhalter (Zug-Druck-Modul) eingesetzt werden sollen oder die Proben gekippt werden müssen
Gegenstand nach CPV
- 38511100RasterelektronenmikroskopeHauptgegenstand
Bedingungen
Zuschlag1 von 1 angegeben
- Qualität
- TECHNISCHE AUSFÜHRUNG
Eignung0 von 2 angegeben
- Kriterien
- ?keine Angabe
- Nachreichen von Unterlagen
- ?keine Angabe
Laufzeit und Umfang1 von 5 angegeben
- Vertragsbeginn
- ?keine Angabe
- Vertragsende
- ?keine Angabe
- Verlängerung
- ?keine Angabe
- Optionen
- ?keine Angabe
- Rahmenvereinbarung
- nein
Angebot und Einreichung0 von 8 angegeben
- Elektronische Einreichung
- ?keine Angabe
- Einreichung über
- ?keine Angabe
- Sprache
- ?keine Angabe
- Nebenangebote
- ?keine Angabe
- Mehrere Hauptangebote
- ?keine Angabe
- Bindefrist
- ?keine Angabe
- Angebotsöffnung
- ?keine Angabe
- Sicherheiten
- ?keine Angabe
Ausführung1 von 4 angegeben
- Vertraulichkeit
- ?keine Angabe
- E-Rechnung
- ?keine Angabe
- Vorbehaltene Ausführung
- ?keine Angabe
- EU-Mittel
- Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert
Rechtsschutz2 von 2 angegeben
- Nachprüfungsstelle
- VERGABEKAMMER, Kaiser-Friedrich-Str. 16, 53113 Bonn
- Beschaffungsübereinkommen (GPA)
- fällt darunter
Keine Angabe passt zu diesem Suchbegriff.
Bezeichnungen aus den amtlichen eForms-Codelisten (EU und eForms-DE). Maßgeblich sind die Vergabeunterlagen.
Zuschläge
| Zuschlag an | Angebote |
|---|---|
| Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH, Oberkochen | 2 |
AuftraggeberZur Seite der Vergabestelle
- Anschrift
- Hansastraße 27c, 80686 München
- Website
- vergabe.fraunhofer.de
- Kontakt
- einkauf@
zv.fraunhofer.de
Bei uns erfasst
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Marktumfeldvon uns ausgewertet
Vergabemeldungen der letzten 24 Monate mit Hauptgegenstand CPV 385 (Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen) in Bayern. Abgeleitet aus veröffentlichten Bekanntmachungen, keine amtliche Statistik. Zuschlagswerte unter 1.000 € zählen wir als Platzhalter nicht mit.
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Häufige Zuschlagsempfänger
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- Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH4 Zuschläge
- Keysight Technologies4 Zuschläge
- ATV Systems GmbH3 Zuschläge
- JEOL (Germany) GmbH3 Zuschläge
- Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG3 Zuschläge
Preise und WettbewerbPremium
Verlauf des Verfahrens2 Meldungen
- Vergabebekanntmachung (diese Seite)
- BekanntmachungFrist 25.03.2024
Berichtigte Fassungen bleiben aufrufbar. Die Suche zeigt je Verfahren nur die aktuelle.
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Quelle: Bekanntmachungsservice des Bundes (oeffentlichevergabe.de), Lizenz CC0. Stand der Daten: 04.11.2026. Maßgeblich ist allein die Originalbekanntmachung. Kennung 9e5898f5-9ff0-4f18-bec4-b016fbc4b880.