vergebenEU-weitLieferleistungen

Raman- & AFM-System

Fraunhofer Institut für Lasertechnik · Aachen, Nordrhein-Westfalen

Aktenzeichen PR1171389veröffentlicht 13.05.2026Lieferleistungen · Offenes Verfahren

Frist im Verfahrenkeine Angabe

Dieses Verfahren ist abgeschlossen oder älter. Die Seite bleibt zur Information erreichbar.

Auf einen Blick

Art des Auftrags: Lieferleistungen
Geschätzter Wert: 650 Tsd. €
Laufzeit: keine Angabe
Lose: 1
Verfahren: Offenes VerfahrenVgV, EU-weit
Rahmenvereinbarung: nein
Ort der Leistung: Aachen52074, Nordrhein-Westfalen
Einreichung: keine Angabe

Schnellprüfung für Bieter

Unterlagen frei zugänglichkeine Angabe
Elektronische Einreichung verpflichtendkeine Angabe
Nebenangebote zugelassenkeine Angabe
Mehrere Hauptangebote zugelassenkeine Angabe
Laut Auftraggeber für KMU geeignetkeine Angabe
Sicherheiten verlangtkeine Angabe
Teilnahme vorbehalten (z. B. Werkstätten)keine Angabe
E-Rechnung verpflichtendkeine Angabe
Vertraulichkeitserklärung verlangtkeine Angabe
Elektronische Auktionnein
Aus EU-Mitteln finanziertnein
Wiederkehrender Auftragkeine Angabe

Einordnungvon uns ausgewertet

Wer darf bieten?

Alle interessierten Unternehmen dürfen ein Angebot abgeben.

Wird verhandelt?

Es wird nicht verhandelt. Gewertet wird das Angebot so, wie es eingereicht wurde.

Was jetzt zu tun ist

Kein Angebot mehr möglich. Wer gewonnen hat und wie viele Angebote eingingen, steht unter Zuschläge; für Folgeaufträge lohnt der Blick auf Laufzeit und Vergabestelle.

Das Verfahren ist abgeschlossen; diese Meldung nennt das Ergebnis.

Wertung laut Bekanntmachung: Preis 100 %, Leistung und Qualität 0 %.

Unterlagen schon heruntergeladen? Vergabeunterlagen prüfen (Team): Fristen, Gewichtung, Mengen, Zertifikate und Fehler im Preisblatt.

Fristen und TermineStand 03.11.2026

13.05.2026
Veröffentlichung
vor 6 Monaten
03.11.2026
Heute

Beschreibung

Das Fraunhofer-Institut für Lasertechnik ILT beabsichtigt die Beschaffung sowohl eines konfokalen Raman-Mikroskops zur mikro- und nanoskaligen Vermessung der kristallographischen Eigenschaften verschiedener Materialien wie Glas, Saphir oder diverser Halbleiter sowie eines Rasterkraftmikroskops (AFM) zur nanoskaligen Vermessung der Topografie sowie der elektrischen Eigenschaften verschiedener Materialien, wie Glas, Saphir oder diverse Halbleiter.

Gegenstand nach CPV

38514200RastersondenmikroskopeHauptgegenstand

Bedingungen

Zuschlag1 von 1 angegeben

siehe oben100 %

Preis: siehe oben• Erfüllung von Spezifikationen - 55% • Preis - 35% • Nachhaltigkeit (Stromverbrauch) - 10%

Eignung0 von 2 angegeben

Kriterien: keine Angabe
Nachreichen von Unterlagen: keine Angabe

Laufzeit und Umfang1 von 5 angegeben

Vertragsbeginn: keine Angabe
Vertragsende: keine Angabe
Verlängerung: keine Angabe
Optionen: keine Angabe
Rahmenvereinbarung: nein

Angebot und Einreichung0 von 8 angegeben

Elektronische Einreichung: keine Angabe
Einreichung über: keine Angabe
Sprache: keine Angabe
Nebenangebote: keine Angabe
Mehrere Hauptangebote: keine Angabe
Bindefrist: keine Angabe
Angebotsöffnung: keine Angabe
Sicherheiten: keine Angabe

Ausführung1 von 4 angegeben

Vertraulichkeit: keine Angabe
E-Rechnung: keine Angabe
Vorbehaltene Ausführung: keine Angabe
EU-Mittel: Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert

Rechtsschutz3 von 3 angegeben

Nachprüfungsstelle: Fraunhofer Institut für Lasertechnik, 52074 Aachen
Fristen für Nachprüfungsanträge: Etwaige Vergabeverstöße muss der Bewerber/Bieter gemäß § 160 Abs. 3 Nr. 1 GWB innerhalb von 10 Tagen nach Kenntnisnahme rügen. (2) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, sind nach § 160 Abs. 3 Nr. 2 GWB spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung … ganz lesenkürzer
Etwaige Vergabeverstöße muss der Bewerber/Bieter gemäß § 160 Abs. 3 Nr. 1 GWB innerhalb von 10 Tagen nach Kenntnisnahme rügen. (2) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, sind nach § 160 Abs. 3 Nr. 2 GWB spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Abgabe der Bewerbung oder der Angebote gegenüber dem Auftraggeber zu rügen. (3) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, sind nach § 160 Abs. 3 Nr. 3 GWB spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbungsoder Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber zu rügen. (4) Ein Vergabenachprüfungsantrag ist nach § 160 Abs. 3 Nr. 4 GWB innerhalb von 15 Kalendertagen nach der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, bei der Vergabekammer einzureichen.
Beschaffungsübereinkommen (GPA): fällt nicht darunter

Bezeichnungen aus den amtlichen eForms-Codelisten (EU und eForms-DE). Maßgeblich sind die Vergabeunterlagen.

Zuschläge

Zuschläge je Los
Zuschlag an	Angebote
Oxford Instruments GmbH, Wiesbaden	2

AuftraggeberAlle Verfahren dieses Auftraggebers

Name: Fraunhofer Institut für Lasertechnik
Art: Öffentliches Unternehmen, Allgemeine öffentliche Verwaltung
Anschrift: 52074 Aachen
Kontakt: einkauf@ilt.fraunhofer.de

Bei uns erfasst

3Bekanntmachungen

1Zuschlagsmeldungen

Noch keine Zuschlagsmeldung dieses Auftraggebers im Bestand.

Marktumfeldvon uns ausgewertet

Vergabemeldungen der letzten 24 Monate mit Hauptgegenstand CPV 385 (Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen) in Nordrhein-Westfalen. Abgeleitet aus veröffentlichten Bekanntmachungen, keine amtliche Statistik. Zuschlagswerte unter 1.000 € zählen wir als Platzhalter nicht mit.

80vergebene Aufträge

1Angebote je Los im Median (43 Lose mit Angabe)

287.398 €Zuschlagswert im Median

216.000 € – 648.178 €mittlere Hälfte, 26 Werte

Häufige Zuschlagsempfänger

Leica Microsysteme Vertrieb GmbH3 Zuschläge
CYTENA GmbH2 Zuschläge
Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH2 Zuschläge
Hitachi High-Tech Europe GmbH2 Zuschläge
Nikon Deutschland, ZNL der Nikon Europe B.V.2 Zuschläge
Oxford Instruments GmbH2 Zuschläge