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Laserscanningmikroskop

Universität Siegen · Siegen, Nordrhein-Westfalen

Aktenzeichen 01-WI25E1VV-EPveröffentlicht 27.10.2025LieferleistungenVerhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb

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Art des Auftrags
Lieferleistungen
Geschätzter Wert
1 €
Laufzeit
9 Wochen
Lose
1
Verfahren
Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum WettbewerbVgV, EU-weit
Rahmenvereinbarung
nein
Einreichung
keine Angabe

Schnellprüfung für Bieter

  • Unterlagen frei zugänglichkeine Angabe
  • Elektronische Einreichung verpflichtendkeine Angabe
  • Nebenangebote zugelassenkeine Angabe
  • Mehrere Hauptangebote zugelassenkeine Angabe
  • Laut Auftraggeber für KMU geeignetkeine Angabe
  • Sicherheiten verlangtkeine Angabe
  • Teilnahme vorbehalten (z. B. Werkstätten)keine Angabe
  • E-Rechnung verpflichtendkeine Angabe
  • Vertraulichkeitserklärung verlangtkeine Angabe
  • Elektronische Auktionnein
  • Aus EU-Mitteln finanziertnein
  • Wiederkehrender Auftragkeine Angabe

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Wertung laut Bekanntmachung: Preis 0 %, Leistung und Qualität 100 %.

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Fristen und TermineStand 07.11.2026

  1. Veröffentlichung
    vor 12 Monaten
  2. Heute

Beschreibung

Beschaffung eines 3D Laserscanningmikroskops VK-X3000/X3100 der Firma Keyence Deutschland GmbH zur Oberflächen- und Topographieanalyse nanometerskaliger Strukturen sowie zur Kalibrierung eines 3D-Nanodruckers.

Beschreibung des Loses

Beschaffung eines 3D-Lasercanningmikroskops mit einem Vergrößerungsbereich von 42x bis 28880x. Das Mikroskop verfügt über diverse Standardobjektive (motorisierter Revolver mit 5x 10x 20x 50x), einem 10x Interferenz-Objektiv sowie einem hochauflösenden 150x Objektiv mit einer numerischen Apertur von 0,95. Das spezialisierte 3D-Laserscanningmikroksop verfügt über komplementäre Messprinzipien, bestehend aus I.) Konfokalem Laser, II.) Fokusvariation III.) Weißlichtinterferometrie und erreicht eine maximale Auflösung von 0,01 nm in z-Richtung und 0,1 nm x-y Auflösung durch ein im System integriertes Weißlichtinterferometer. Die komplementären Messprinzipien (Triple Principle Integrated) erlauben Analysen sowohl im Nanometer-, Mikrometer- und Millimeterbereich in nur einem System ohne aufwendige Umbauten. Das Laserscanningmikroskop verfügt neben der 3D-Messfähigkeit über Messmethoden eines vollwertigen Lichtmikroskops (Hell-, Dunkelfeld-, Mix-Beleuchtung und Segmente des Ringlichts steuerbar). Durch komplementäre Ringbeleuchtung, Koaxialbeleuchtung und Mix-Beleuchtung werden optimale Beleuchtungsszenarien ohne zusätzliches Equipment garantiert. Eine laserinduzierte Plasmaspektroskopieeinheit kann in dem Gerät modular nachgerüstet werden (keine zusätzliche Einheit außerhalb des Mikroskops erforderlich). Die Option der modularen Nachrüstung ist zwingend erforderlich für zukünftige Materialanalysen unter Umgebungsbedingungen. Eine Auflösung von bis zu 0,01 nm ist erforderlich, um 3D-gedruckte Nanostrukturen, abgeschiedene Dünnschichten, sowie mittels 2,5D Graustufen- und Elektronenstrahllithographie hergestellte nano-/mikroskopische Profile bzgl. Oberflächenrauigkeiten (im Nanometerbereich), Abmessungen/Kantensteilheiten- und Profile (Mikrometer- bis Millimeterbereich) auf Substraten bis zu 200 mm Durchmesser in nur einem System ohne Umbauten zu analysieren. Weiterhin werden mit diesem System Strukturierungs- und Abbildungsqualitäten und Ergebnisse konventioneller UV-Lithographiesysteme, einer Nanoimprintlithographie sowie Ätzprofile (sowohl Nass- als auch Trockenätzprozesse) von Materialien in genannten Reinraum schnell und flexibel ohne den Einsatz einer aufwendigen Rastelektronenmikroskopie mit vergleichbarer Auflösung überprüft. Das VK-X3000 umfasst einen violetten Laser, einen 16-Bit Photomultiplier, einen 5,6 MP CMOS Bildsensor, eine Betrachtungs-/Analyse- und Bildzusammensetzungssoftware, einen PC inkl. Monitor und Stromversorgung, einen Winkeltisch und einen motorisierten Objekttisch. Die Keyence Deutschland GmbH bietet als einziger Hersteller eine KI-gestützte Bedienungssoftware mit einer unbegrenzten Anzahl an Standortlizenzen sowie eine unbegrenzte Anzahl an Schulungen vor Ort.

Bedingungen

Zuschlag1 von 1 angegeben

Qualität100 %
Qualität
Das Mikroskop verfügt über diverse Standardobjektive (motorisierter Revolver mit 5x 10x 20x 50x), einem 10x Interferenz-Objektiv sowie einem hochauflösenden 150x Objektiv mit einer numerischen Apertur von 0,95. Das spezialisierte 3D-Laserscanningmikroksop verfügt über komplementäre Messprinzipien, bestehend aus I.) Konfokalem Laser, II.) Fokusvariation III.) Weißlichtinterferometrie und erreicht eine maximale Auflösung von 0,01 nm in z-Richtung und 0,1 nm x-y Auflösung durch ein im System integriertes Weißlichtinterferometer. Die komplementären Messprinzipien (Triple Principle Integrated) erlauben Analysen sowohl im Nanometer-, Mikrometer- und Millimeterbereich in nur einem System ohne aufwendige Umbauten. Das Laserscanningmikroskop verfügt neben der 3D-Messfähigkeit über Messmethoden eines vollwertigen Lichtmikroskops (Hell-, Dunkelfeld-, Mix-Beleuchtung und Segmente des Ringlichts steuerbar). Durch komplementäre Ringbeleuchtung, Koaxialbeleuchtung und Mix-Beleuchtung werden optimale Beleuchtungsszenarien ohne zusätzliches Equipment garantiert. Eine laserinduzierte Plasmaspektroskopieeinheit kann in dem Gerät modular nachgerüstet werden (keine zusätzliche Einheit außerhalb des Mikroskops erforderlich). Die Option der modularen Nachrüstung ist zwingend erforderlich für zukünftige Materialanalysen unter Umgebungsbedingungen. Eine Auflösung von bis zu 0,01 nm ist erforderlich, um 3D-gedruckte Nanostrukturen, abgeschiedene Dünnschichten, sowie mittels 2,5D Graustufen- und Elektronenstrahllithographie hergestellte nano-/mikroskopische Profile bzgl. Oberflächenrauigkeiten (im Nanometerbereich), Abmessungen/Kantensteilheiten- und Profile (Mikrometer- bis Millimeterbereich) auf Substraten bis zu 200 mm Durchmesser in nur einem System ohne Umbauten zu analysieren. Weiterhin werden mit diesem System Strukturierungs- und Abbildungsqualitäten und Ergebnisse konventioneller UV-Lithographiesysteme, einer Nanoimprintlithographie sowie Ätzprofile (sowohl Nass- als auch Trockenätzprozesse) von Materialien in genannten Reinraum schnell und flexibel ohne den Einsatz einer aufwendigen Rastelektronenmikroskopie mit vergleichbarer Auflösung überprüft. Das VK-X3000 umfasst einen violetten Laser, einen 16-Bit Photomultiplier, einen 5,6 MP CMOS Bildsensor, eine Betrachtungs-/Analyse- und Bildzusammensetzungssoftware, einen PC inkl. Monitor und Stromversorgung, einen Winkeltisch und einen motorisierten Objekttisch. Die Keyence Deutschland GmbH bietet als einziger Hersteller eine KI-gestützte Bedienungssoftware mit einer unbegrenzten Anzahl an Standortlizenzen sowie eine unbegrenzte Anzahl an Schulungen vor Ort.

Eignung0 von 2 angegeben

Kriterien
keine Angabe
Nachreichen von Unterlagen
keine Angabe

Laufzeit und Umfang2 von 6 angegeben

Vertragsbeginn
keine Angabe
Vertragsende
keine Angabe
Dauer
9 Wochen
Verlängerung
keine Angabe
Optionen
keine Angabe
Rahmenvereinbarung
nein

Angebot und Einreichung0 von 8 angegeben

Elektronische Einreichung
keine Angabe
Einreichung über
keine Angabe
Sprache
keine Angabe
Nebenangebote
keine Angabe
Mehrere Hauptangebote
keine Angabe
Bindefrist
keine Angabe
Angebotsöffnung
keine Angabe
Sicherheiten
keine Angabe

Ausführung1 von 4 angegeben

Vertraulichkeit
keine Angabe
E-Rechnung
keine Angabe
Vorbehaltene Ausführung
keine Angabe
EU-Mittel
Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert

Rechtsschutz3 von 3 angegeben

Nachprüfungsstelle
Vergabekammer Westfalen bei der Bezirksregierung Münster, Albrecht-Thaer-Str. 9, 48128 Münster
Fristen für Nachprüfungsanträge
Statthafte Rechtsbehelfe sind gem. §§ 160 ff. GWB die Rüge sowie der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens vor der zuständigen Vergabekammer. Eine Rüge ist an die Vergabestelle zu richten. Eine Rüge bzw. der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens ist unzulässig, soweit - der … ganz lesenStatthafte Rechtsbehelfe sind gem. §§ 160 ff. GWB die Rüge sowie der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens vor der zuständigen Vergabekammer. Eine Rüge ist an die Vergabestelle zu richten. Eine Rüge bzw. der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens ist unzulässig, soweit - der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von zehn Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 bleibt unberührt, - Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, - Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden oder - mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Absatz 1 Nummer 2. § 134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt.
Beschaffungsübereinkommen (GPA)
fällt darunter

Zusätzliche Informationen1 von 1 angegeben

Hinweis
#Bekanntmachungs-ID: CXPNY56DPSE#

Bezeichnungen aus den amtlichen eForms-Codelisten (EU und eForms-DE). Maßgeblich sind die Vergabeunterlagen.

Zuschläge

Zuschläge je Los
Zuschlag anAngebote
KEYENCE DEUTSCHLAND GmbH, Frankfurt am Main1

AuftraggeberZur Seite der Vergabestelle

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Marktumfeldvon uns ausgewertet

Vergabemeldungen der letzten 24 Monate mit Hauptgegenstand CPV 385 (Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen) in Nordrhein-Westfalen. Abgeleitet aus veröffentlichten Bekanntmachungen, keine amtliche Statistik. Zuschlagswerte unter 1.000 € zählen wir als Platzhalter nicht mit.

207vergebene Aufträge
1Angebote je Los im Median (109 Lose mit Angabe)
311.967 €Zuschlagswert im Median
221.000 € – 618.840 €mittlere Hälfte, 49 Werte

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Preise und WettbewerbPremium

Verlauf des Verfahrens2 Meldungen

  1. Vergabebekanntmachung (diese Seite)
  2. Vorabinformation Direktvergabe

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Quelle: Bekanntmachungsservice des Bundes (oeffentlichevergabe.de), Lizenz CC0. Stand der Daten: 03.11.2026. Maßgeblich ist allein die Originalbekanntmachung. Kennung 9c2403c5-ce8a-4b40-90c8-9d659c39eff9.