Laserscanningmikroskop
Universität Siegen · Siegen, Nordrhein-Westfalen
Aktenzeichen 01-WI25E1VV-EPveröffentlicht 27.10.2025LieferleistungenVerhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
- Laufzeit
- 9 Wochen
- Verfahren
- Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
Dieses Verfahren ist abgeschlossen oder älter. Die Seite bleibt zur Information erreichbar.
Diese Frist ist vorbei. Das läuft gerade
Offene Ausschreibungen derselben Leistung in Nordrhein-Westfalen.
- Lieferung allgemeiner Laborgeräte zur Ausstattung von ForschungslaborenModellfabrik Papier gGmbH · 52351 DürenFrist 18.11.2026
- SputteranlageUniversität Duisburg-Essen · DuisburgFrist 04.12.2026
- Mobile Crime Scene Investigation Vehicles / Mobile Forensic LaboratoriesGLOBAL SECURITY-SECTOR-REFORM FOUNDATION GGMBH · ESSENFrist 04.12.2026
- DFG-Az.: EXC 3101/1 TP2 (A 191) Beschaffung eines PipettierrobotersDeutsche Forschungsgemeinschaft e.V. · BonnFrist 04.12.2026
Alle Ausschreibungen: Labor- und Messgeräte in Nordrhein-Westfalen (35 offen)
Geplant · Neuausschreibung möglich
Vertrag endete voraussichtlich am
bereits erreicht · aus Vertragsdatum und Laufzeit errechnet
Endet ein Vertrag, schreibt die Vergabestelle die Leistung oft neu aus. Merken Sie den Vertrag vor: Wir erinnern Sie per E-Mail vor dem Vertragsende und melden, wenn dieselbe Vergabestelle eine ähnliche Leistung ausschreibt.
Verlängerungen sind nicht eingerechnet. Ob und wann neu ausgeschrieben wird, entscheidet die Vergabestelle. Die Erkennung einer Neuausschreibung ist eine Schätzung. Weitere auslaufende Verträge
Auf einen Blick
- Art des Auftrags
- Lieferleistungen
- Geschätzter Wert
- 1 €
- Laufzeit
- 9 Wochen
- Lose
- 1
- Verfahren
- Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum WettbewerbVgV, EU-weit
- Rahmenvereinbarung
- nein
- Ort der Leistung
- Siegen57076, Kreis Siegen-Wittgenstein, Nordrhein-Westfalen
- Einreichung
- ?keine Angabe
Schnellprüfung für Bieter
- ?Unterlagen frei zugänglichkeine Angabe
- ?Elektronische Einreichung verpflichtendkeine Angabe
- ?Nebenangebote zugelassenkeine Angabe
- ?Mehrere Hauptangebote zugelassenkeine Angabe
- ?Laut Auftraggeber für KMU geeignetkeine Angabe
- ?Sicherheiten verlangtkeine Angabe
- ?Teilnahme vorbehalten (z. B. Werkstätten)keine Angabe
- ?E-Rechnung verpflichtendkeine Angabe
- ?Vertraulichkeitserklärung verlangtkeine Angabe
- Elektronische Auktionnein
- Aus EU-Mitteln finanziertnein
- ?Wiederkehrender Auftragkeine Angabe
Einordnungvon uns ausgewertet
Nur Unternehmen, die die Vergabestelle direkt auffordert, geben ein Angebot ab.
Über Inhalt und Preis kann verhandelt werden, der Zuschlag ist aber oft auch ohne Verhandlung möglich.
Kein Angebot mehr möglich. Wer gewonnen hat und wie viele Angebote eingingen, steht unter Zuschläge; für Folgeaufträge lohnt der Blick auf Laufzeit und Vergabestelle.
Das Verfahren ist abgeschlossen; diese Meldung nennt das Ergebnis.
Bei dieser Vergabestelle vergehen von der ersten Meldung bis zum Ergebnis im Mittel 63 Tage (57 Verfahren, 24 Monate).
Sie erhält im Median 2 Angebote je Los (128 Lose mit Angabe).
Wertung laut Bekanntmachung: Preis 0 %, Leistung und Qualität 100 %.
Unterlagen schon heruntergeladen? Vergabeunterlagen prüfen (Team): Fristen, Gewichtung, Mengen, Zertifikate und Fehler im Preisblatt.
Fristen und TermineStand 07.11.2026
- Veröffentlichungvor 12 Monaten
- Heute
Beschreibung
Beschaffung eines 3D Laserscanningmikroskops VK-X3000/X3100 der Firma Keyence Deutschland GmbH zur Oberflächen- und Topographieanalyse nanometerskaliger Strukturen sowie zur Kalibrierung eines 3D-Nanodruckers.
Beschreibung des Loses
Beschaffung eines 3D-Lasercanningmikroskops mit einem Vergrößerungsbereich von 42x bis 28880x. Das Mikroskop verfügt über diverse Standardobjektive (motorisierter Revolver mit 5x 10x 20x 50x), einem 10x Interferenz-Objektiv sowie einem hochauflösenden 150x Objektiv mit einer numerischen Apertur von 0,95. Das spezialisierte 3D-Laserscanningmikroksop verfügt über komplementäre Messprinzipien, bestehend aus I.) Konfokalem Laser, II.) Fokusvariation III.) Weißlichtinterferometrie und erreicht eine maximale Auflösung von 0,01 nm in z-Richtung und 0,1 nm x-y Auflösung durch ein im System integriertes Weißlichtinterferometer. Die komplementären Messprinzipien (Triple Principle Integrated) erlauben Analysen sowohl im Nanometer-, Mikrometer- und Millimeterbereich in nur einem System ohne aufwendige Umbauten. Das Laserscanningmikroskop verfügt neben der 3D-Messfähigkeit über Messmethoden eines vollwertigen Lichtmikroskops (Hell-, Dunkelfeld-, Mix-Beleuchtung und Segmente des Ringlichts steuerbar). Durch komplementäre Ringbeleuchtung, Koaxialbeleuchtung und Mix-Beleuchtung werden optimale Beleuchtungsszenarien ohne zusätzliches Equipment garantiert. Eine laserinduzierte Plasmaspektroskopieeinheit kann in dem Gerät modular nachgerüstet werden (keine zusätzliche Einheit außerhalb des Mikroskops erforderlich). Die Option der modularen Nachrüstung ist zwingend erforderlich für zukünftige Materialanalysen unter Umgebungsbedingungen. Eine Auflösung von bis zu 0,01 nm ist erforderlich, um 3D-gedruckte Nanostrukturen, abgeschiedene Dünnschichten, sowie mittels 2,5D Graustufen- und Elektronenstrahllithographie hergestellte nano-/mikroskopische Profile bzgl. Oberflächenrauigkeiten (im Nanometerbereich), Abmessungen/Kantensteilheiten- und Profile (Mikrometer- bis Millimeterbereich) auf Substraten bis zu 200 mm Durchmesser in nur einem System ohne Umbauten zu analysieren. Weiterhin werden mit diesem System Strukturierungs- und Abbildungsqualitäten und Ergebnisse konventioneller UV-Lithographiesysteme, einer Nanoimprintlithographie sowie Ätzprofile (sowohl Nass- als auch Trockenätzprozesse) von Materialien in genannten Reinraum schnell und flexibel ohne den Einsatz einer aufwendigen Rastelektronenmikroskopie mit vergleichbarer Auflösung überprüft. Das VK-X3000 umfasst einen violetten Laser, einen 16-Bit Photomultiplier, einen 5,6 MP CMOS Bildsensor, eine Betrachtungs-/Analyse- und Bildzusammensetzungssoftware, einen PC inkl. Monitor und Stromversorgung, einen Winkeltisch und einen motorisierten Objekttisch. Die Keyence Deutschland GmbH bietet als einziger Hersteller eine KI-gestützte Bedienungssoftware mit einer unbegrenzten Anzahl an Standortlizenzen sowie eine unbegrenzte Anzahl an Schulungen vor Ort.
Gegenstand nach CPV
Bedingungen
Zuschlag1 von 1 angegeben
- Qualität
- Das Mikroskop verfügt über diverse Standardobjektive (motorisierter Revolver mit 5x 10x 20x 50x), einem 10x Interferenz-Objektiv sowie einem hochauflösenden 150x Objektiv mit einer numerischen Apertur von 0,95. Das spezialisierte 3D-Laserscanningmikroksop verfügt über komplementäre Messprinzipien, bestehend aus I.) Konfokalem Laser, II.) Fokusvariation III.) Weißlichtinterferometrie und erreicht eine maximale Auflösung von 0,01 nm in z-Richtung und 0,1 nm x-y Auflösung durch ein im System integriertes Weißlichtinterferometer. Die komplementären Messprinzipien (Triple Principle Integrated) erlauben Analysen sowohl im Nanometer-, Mikrometer- und Millimeterbereich in nur einem System ohne aufwendige Umbauten. Das Laserscanningmikroskop verfügt neben der 3D-Messfähigkeit über Messmethoden eines vollwertigen Lichtmikroskops (Hell-, Dunkelfeld-, Mix-Beleuchtung und Segmente des Ringlichts steuerbar). Durch komplementäre Ringbeleuchtung, Koaxialbeleuchtung und Mix-Beleuchtung werden optimale Beleuchtungsszenarien ohne zusätzliches Equipment garantiert. Eine laserinduzierte Plasmaspektroskopieeinheit kann in dem Gerät modular nachgerüstet werden (keine zusätzliche Einheit außerhalb des Mikroskops erforderlich). Die Option der modularen Nachrüstung ist zwingend erforderlich für zukünftige Materialanalysen unter Umgebungsbedingungen. Eine Auflösung von bis zu 0,01 nm ist erforderlich, um 3D-gedruckte Nanostrukturen, abgeschiedene Dünnschichten, sowie mittels 2,5D Graustufen- und Elektronenstrahllithographie hergestellte nano-/mikroskopische Profile bzgl. Oberflächenrauigkeiten (im Nanometerbereich), Abmessungen/Kantensteilheiten- und Profile (Mikrometer- bis Millimeterbereich) auf Substraten bis zu 200 mm Durchmesser in nur einem System ohne Umbauten zu analysieren. Weiterhin werden mit diesem System Strukturierungs- und Abbildungsqualitäten und Ergebnisse konventioneller UV-Lithographiesysteme, einer Nanoimprintlithographie sowie Ätzprofile (sowohl Nass- als auch Trockenätzprozesse) von Materialien in genannten Reinraum schnell und flexibel ohne den Einsatz einer aufwendigen Rastelektronenmikroskopie mit vergleichbarer Auflösung überprüft. Das VK-X3000 umfasst einen violetten Laser, einen 16-Bit Photomultiplier, einen 5,6 MP CMOS Bildsensor, eine Betrachtungs-/Analyse- und Bildzusammensetzungssoftware, einen PC inkl. Monitor und Stromversorgung, einen Winkeltisch und einen motorisierten Objekttisch. Die Keyence Deutschland GmbH bietet als einziger Hersteller eine KI-gestützte Bedienungssoftware mit einer unbegrenzten Anzahl an Standortlizenzen sowie eine unbegrenzte Anzahl an Schulungen vor Ort.
Eignung0 von 2 angegeben
- Kriterien
- ?keine Angabe
- Nachreichen von Unterlagen
- ?keine Angabe
Laufzeit und Umfang2 von 6 angegeben
- Vertragsbeginn
- ?keine Angabe
- Vertragsende
- ?keine Angabe
- Dauer
- 9 Wochen
- Verlängerung
- ?keine Angabe
- Optionen
- ?keine Angabe
- Rahmenvereinbarung
- nein
Angebot und Einreichung0 von 8 angegeben
- Elektronische Einreichung
- ?keine Angabe
- Einreichung über
- ?keine Angabe
- Sprache
- ?keine Angabe
- Nebenangebote
- ?keine Angabe
- Mehrere Hauptangebote
- ?keine Angabe
- Bindefrist
- ?keine Angabe
- Angebotsöffnung
- ?keine Angabe
- Sicherheiten
- ?keine Angabe
Ausführung1 von 4 angegeben
- Vertraulichkeit
- ?keine Angabe
- E-Rechnung
- ?keine Angabe
- Vorbehaltene Ausführung
- ?keine Angabe
- EU-Mittel
- Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert
Rechtsschutz3 von 3 angegeben
- Nachprüfungsstelle
- Vergabekammer Westfalen bei der Bezirksregierung Münster, Albrecht-Thaer-Str. 9, 48128 Münster
- Fristen für Nachprüfungsanträge
Statthafte Rechtsbehelfe sind gem. §§ 160 ff. GWB die Rüge sowie der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens vor der zuständigen Vergabekammer. Eine Rüge ist an die Vergabestelle zu richten. Eine Rüge bzw. der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens ist unzulässig, soweit - der … ganz lesenkürzer
Statthafte Rechtsbehelfe sind gem. §§ 160 ff. GWB die Rüge sowie der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens vor der zuständigen Vergabekammer. Eine Rüge ist an die Vergabestelle zu richten. Eine Rüge bzw. der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens ist unzulässig, soweit - der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von zehn Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 bleibt unberührt, - Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, - Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden oder - mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Absatz 1 Nummer 2. § 134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt.- Beschaffungsübereinkommen (GPA)
- fällt darunter
Zusätzliche Informationen1 von 1 angegeben
- Hinweis
- #Bekanntmachungs-ID: CXPNY56DPSE#
Keine Angabe passt zu diesem Suchbegriff.
Bezeichnungen aus den amtlichen eForms-Codelisten (EU und eForms-DE). Maßgeblich sind die Vergabeunterlagen.
Zuschläge
| Zuschlag an | Angebote |
|---|---|
| KEYENCE DEUTSCHLAND GmbH, Frankfurt am Main | 1 |
AuftraggeberZur Seite der Vergabestelle
- Anschrift
- Adolf-Reichwein-Str. 2a, 57076 Siegen
- Website
- uni-siegen.de
- Kontakt
- ausschreibungen@
zv.uni-siegen.de
Bei uns erfasst
- Einführung eines cloudbasierten CAFM-Systems (SaaS) inkl. Migration aus dem Bestandssystem zur nachhaltigen Unterstützung des operativen und strategischen Facility Managements15.10.2026 · 1 Angebot
- Winterdienstleistungen16.09.2026 · 3 Angebote
- Chemie-Laborgeräte Ersteinrichtung für den INCYTE Forschungsneubau13.09.2026 · 3 Angebote
- Druckgesteuertes Durchflusskontrollsystem13.09.2026 · 2 Angebote
Mehr von Universität Siegen
- Lieferung von Notebooks, Dockingstationen und PeripherieUniversität Siegen · SiegenFrist 19.11.2026
- Austausch der Bestandsleuchten im Gebäude AR-NAUniversität Siegen · 57076 SiegenFrist 23.11.2026
Alle 2 offenen Ausschreibungen von Universität Siegen, dazu Zuschläge und Auftragnehmer
Marktumfeldvon uns ausgewertet
Vergabemeldungen der letzten 24 Monate mit Hauptgegenstand CPV 385 (Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen) in Nordrhein-Westfalen. Abgeleitet aus veröffentlichten Bekanntmachungen, keine amtliche Statistik. Zuschlagswerte unter 1.000 € zählen wir als Platzhalter nicht mit.
Mehr Marktdaten, Vergabestellen und offene Ausschreibungen: Labor- und Messgeräte in Nordrhein-Westfalen (35 offen)
Häufige Zuschlagsempfänger
- Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH8 Zuschläge
- Leica Mikrosysteme Vertrieb GmbH6 Zuschläge
- Nikon Europe B.V. Zweigniederlassung Deutschland5 Zuschläge
- KEYENCE DEUTSCHLAND GmbH4 Zuschläge
- Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH3 Zuschläge
- Hitachi High-Tech Europe GmbH3 Zuschläge
Preise und WettbewerbPremium
Verlauf des Verfahrens2 Meldungen
- Vergabebekanntmachung (diese Seite)
- Vorabinformation Direktvergabe
Berichtigte Fassungen bleiben aufrufbar. Die Suche zeigt je Verfahren nur die aktuelle.
Ähnliche offene Ausschreibungen
- Erneuerung der zentralen Hydraulikversorgung am Standort BraunschweigDeutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. (DLR)Frist 09.12.2026
- Lieferung und gebrauchsfertige Aufstellung von technisch-didaktischen Ausstattungsgegenständen für die berufliche Bildung in den Bereichen Land- und Baumaschinenmechatronik, Schweißen und KraftfahrerDeula Westfalen-Lippe GmbHFrist 16.11.2026
- DFG-GZ: EXC 3120/1 TP 01 (A 232) Lieferung eines "Digitalen holografischen Mikroskopsystems"Deutsche Forschungsgemeinschaft e.V.Frist 25.11.2026
- DFG-GZ: EXC 3094/1 TP 05 (A 228) Lieferung eines "SIM-Mikroskopsystems"Deutsche Forschungsgemeinschaft e.V.Frist 20.11.2026
- DFG-GZ: EXC 2030/2 TP 03 (A 220) Lieferung eines "Automatisierten Lebendzell-Bildgebungs- und Analysesystems"Deutsche Forschungsgemeinschaft e.V.Frist 19.11.2026
- DFG-GZ: EXC 2145/2 TP 01 (A 217) Lieferung eines "Spinning-Disk-Mikroskops"Deutsche Forschungsgemeinschaft e.V.Frist 19.11.2026
Quelle: Bekanntmachungsservice des Bundes (oeffentlichevergabe.de), Lizenz CC0. Stand der Daten: 03.11.2026. Maßgeblich ist allein die Originalbekanntmachung. Kennung 9c2403c5-ce8a-4b40-90c8-9d659c39eff9.