Beschaffung eines Hydra Bio CX Small Dual Beam Mikroskop
Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. · München, Bayern
Aktenzeichen 136/25veröffentlicht 03.07.2025LieferleistungenVerhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
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Fristen und TermineStand 07.11.2026
- Veröffentlichungvor 16 Monaten
- Heute
Beschreibung
Am Max-Planck-Institut für Biochemie (MPIB) ist eine Forschungsgruppe für KryoEM Technologie eingerichtet. Die Gruppe widmet sich der Entwicklung und Anwendung innovativer Werkzeuge und Technologien in der Kryo-Elektronenmikroskopie (cryoEM) und insbesondere der Kryo-Elektronentomographie (cryoET). Zu Forschungszwecken möchte die Forschungsgruppe ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (FE-REM bzw. FE-SEM: Field-Emission-Scanning Electron Microscope) mit einem hochmodernen fokussierten induktiv gekoppelten Plasma-Ionenstrahl beschaffen. Das Mikroskop soll sowohl für die kryogene Probenpräparation als auch die Bildgebung, insbesondere die Kryo-Volumen-EM-Bildgebung, verwendet werden. Kryogene Proben ("Frozen-hydrated") sind vitrifizierte Proben, die sowohl mittels Schockgefrieren bei atmosphärischem Druck ("Plunge-freezing") als auch unter Hochdruck ("High-pressure freezing; HPF"), bei ca. 2000 bar, hergestellt werden. Die Proben sollen mit einem Plasma-Ionenstrahl (Focused-Ion-Beam, FIB) präpariert werden. Dieser Plasma-Ionen-Strahl dient der gezielten Entfernung von Material (Ablation). Der fokussierte induktiv gekoppelte Plasma-Ionenstrahl soll eine ortsspezifische großvolumige Materialentfernung und präzises Top-Down- und Querschnittfräsen ermöglichen. Ein wichtiger Vorteil der Verwendung von Plasmaquellen sind die höheren Strahlströme. Dies ermöglicht die Ablation von großen, unter hohem Druck gefrorenen Gewebeproben mit bis zu einer Größenordnung höheren Ablations-Raten im Vergleich zu herkömmlichen Flüssigmetall-Ionen-quellen, die häufig mit Gallium-Ionen betrieben werden.
Beschreibung des Loses
Kryo-FIB/SEMs (Focused-Ion-Beam Scanning Electron Microscope) werden in der Regel für die Präparation von TEM-Lamellen verwendet. Diese Lamellen, die 100-200 Nanometer dick sind und lateral mehrere zehn Mikrometer messen, sind die Grundvoraussetzung für hochauflösende Strukturuntersuchungen für die Kryo-Elektronentomographie aus biologischem Material. Der Materialverlust ist ein großes Problem und die Bearbeitungszeiten für die Erzeugung von Lamellen aus großen Proben erstrecken sich mit den derzeit in der Forschungsgruppe vorhandenen Geräten über mehrere Tage. Mit herkömmlichem Gallium-betriebenen FIBs ist dieses Problem noch vergrößert, da es sowohl in den gegebenen Abtragungsraten als auch in den verwendeten Strahlströmen limitiert ist. Proben bis maximal 40 Mikrometer Dicke können zwar bearbeitet werden, jedoch ist der Zeitaufwand dazu enorm. Schwerere Plasma-Ionen wie Xenon, die auch bei hohen Strahlströmen eine vorteilhafte lineare Beziehung aufrechterhalten, verkürzen die Zeit für die Lamellenerzeugung. Dies steht im deutlichen Gegensatz zu Gallium (Flüssigmetall-Ionen). Damit ist die Präparation von Proben die dicker sind als 40 Mikrometer mit einem Plasma FIB möglich. Dies bedeutet, dass auch Proben bis zu einer Dicke von 300 Mikrometern mit dem Plasma FIB zugänglich gemacht werden. Daher soll das Mikroskop mit Xenon-Ionen betrieben werden können. Das Mikroskop soll neben Xenon über drei weitere Arten von Plasma-Ionen verfügen, die unabhängig voneinander verwendet werden können. Konkret: Sauerstoff, Argon- und Stickstoff-Ionen. Das ermöglicht die Verfolgung von so genannten Multi-Ionen Präparationsansätzen, d.h. ein Basisfräsen mit Xenon, ein Fein-Fräsen mit Argon oder Sauerstoff, um mögliche Strahlenschäden durch den Fräsvorgang zu minimieren. Ansätze, die bereits in den Materialwissenshaften verwendet werden, jedoch noch nicht bei kryogenen Temperaturen. Dies soll nun erforscht werden. Inwieweit Stickstoff (N) Vorteile bei kryogenen Proben bietet, ist zurzeit noch wenig erforscht. Die Volumenbildgebung wird in der Regel mit Argon-Ionen durchgeführt, die zwar kleiner als Gallium-Ionen sind, aber höhere Ströme als Gallium-Ionen ermöglichen und auch weniger "Vorhang"-Artefakte ("Curtaining") beim Fräsen verursachen. Das gleiche gilt für Sauerstoff (O), welches ebenfalls Vorteile, wie geringere Aufladungen beim Fräsen als auch beim Volume-Imaging aufweist. Da große Mengen an Gewebeproben entnommen werden, ist es außerdem unerlässlich, in diesen riesigen "Landschaften", respektive Volumina navigieren zu können, bestimmte Regionen darin anzuvisieren und so den Gesamtkontext beizubehalten. Daher ist die Fähigkeit zur multimodalen Bildgebung mit Fluoreszenz-Licht-Mikroskopie bzw. mit dem Rasterelektronen-Mikroskop (REM, VolumeEM) zwingend erforderlich, um ein Navigieren zu ermöglichen und auch die verschiedenen Längenskalen zu überbrücken. Das Gerät muss sowohl das "On-the-Grid"-Lamellenfräsen als auch die Präparation von Lift-Out-Lamellen unterstützen. Dazu bedarf es eines Mikromanipulators, der die Präparation von Lift-Out-Lamellen bei kryogenen Temperaturen unterstützt. Hiermit soll das Serial-Lift-Out-Verfahren weiterentwickelt werden, welches als eine bahnbrechende Methode für den Zugang zu Gewebe und mehrzelligen Organismen auf molekularer Ebene angesehen werden kann und einen Forschungsschwerpunkt der Forschungsgruppe bildet. Die Forschung hat zum Ziel, das Serial-Lift-Out Verfahren vollständig zu automatisieren und so die Anwendung von den Fähigkeiten des Benutzers zu entkoppeln und den Prozess zu beschleunigen. Zu diesem Zweck muss die Software des Gerätes über eine Scripting-Option für die von der Forschungsgruppe selbst entwickelte Software SerialFIB verfügen. Zudem muss das Gerät über Kryo-Schleusen und Halter verfügen, die mit der bestehenden Instrumentation der Mandantin kompatibel sind.
Gegenstand nach CPV
- 38511100RasterelektronenmikroskopeHauptgegenstand
- 38512100Ionenmikroskope
Bedingungen
Zuschlag1 von 1 angegeben
- Qualität
- AlleinstellungsmerkmalAusschließlichkeit aus technischen Gründen i.S.v. § 14 Abs. 4 Nr. 2 lit. b) VgV
Eignung0 von 2 angegeben
- Kriterien
- ?keine Angabe
- Nachreichen von Unterlagen
- ?keine Angabe
Laufzeit und Umfang1 von 5 angegeben
- Vertragsbeginn
- ?keine Angabe
- Vertragsende
- ?keine Angabe
- Verlängerung
- ?keine Angabe
- Optionen
- ?keine Angabe
- Rahmenvereinbarung
- nein
Angebot und Einreichung0 von 8 angegeben
- Elektronische Einreichung
- ?keine Angabe
- Einreichung über
- ?keine Angabe
- Sprache
- ?keine Angabe
- Nebenangebote
- ?keine Angabe
- Mehrere Hauptangebote
- ?keine Angabe
- Bindefrist
- ?keine Angabe
- Angebotsöffnung
- ?keine Angabe
- Sicherheiten
- ?keine Angabe
Ausführung1 von 4 angegeben
- Vertraulichkeit
- ?keine Angabe
- E-Rechnung
- ?keine Angabe
- Vorbehaltene Ausführung
- ?keine Angabe
- EU-Mittel
- Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert
Rechtsschutz3 von 3 angegeben
- Nachprüfungsstelle
- Regierung von Oberbayern Vergabekammer Südbayern, 80534 München
- Fristen für Nachprüfungsanträge
Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen(GWB) § 160 Einleitung, Antrag(1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein.(2) Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse an dem öffentlichen Auftrag oder der Konzession hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 … ganz lesenkürzer
Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen(GWB) § 160 Einleitung, Antrag(1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein.(2) Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse an dem öffentlichen Auftrag oder der Konzession hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 Absatz 6 durch Nichtbeachtung von Vergabevorschriften geltend macht. Dabei ist darzulegen, dass dem Unternehmen durch die behauptete Verletzung der Vergabevorschriften ein Schadenentstanden ist oder zu entstehen droht. (3) Der Antrag ist unzulässig, soweit 1. der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von zehn Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 bleibt unberührt,2. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabegegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,3. Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, 4. mehr als15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Absatz 1 Nummer 2. §134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt. Die Unwirksamkeit des Vertrages kann gemäß § 135 Abs. 2 Satz 3 innerhalb 30 Kalendertagen nach Veröffentlichung dieser Bekanntmachung geltend gemacht werden.- Beschaffungsübereinkommen (GPA)
- fällt nicht darunter
Zusätzliche Informationen1 von 1 angegeben
- Hinweis
- Bekanntmachungs-ID: CXP4Y0M53A5
Keine Angabe passt zu diesem Suchbegriff.
Bezeichnungen aus den amtlichen eForms-Codelisten (EU und eForms-DE). Maßgeblich sind die Vergabeunterlagen.
Zuschläge
| Zuschlag an | Angebote |
|---|---|
| FEI Deutschland GmbH, Dreieich | 1 |
AuftraggeberZur Seite der Vergabestelle
- Anschrift
- 80539 München
- Kontakt
- vergabe@
gv.mpg.de
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Marktumfeldvon uns ausgewertet
Vergabemeldungen der letzten 24 Monate mit Hauptgegenstand CPV 385 (Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen) in Bayern. Abgeleitet aus veröffentlichten Bekanntmachungen, keine amtliche Statistik. Zuschlagswerte unter 1.000 € zählen wir als Platzhalter nicht mit.
Mehr Marktdaten, Vergabestellen und offene Ausschreibungen: Labor- und Messgeräte in Bayern (31 offen)
Häufige Zuschlagsempfänger
- Nikon Europe B.V. Zweigniederlassung Deutschland5 Zuschläge
- Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH4 Zuschläge
- Keysight Technologies4 Zuschläge
- ATV Systems GmbH3 Zuschläge
- JEOL (Germany) GmbH3 Zuschläge
- Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG3 Zuschläge
Preise und WettbewerbPremium
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Quelle: Bekanntmachungsservice des Bundes (oeffentlichevergabe.de), Lizenz CC0. Stand der Daten: 04.11.2026. Maßgeblich ist allein die Originalbekanntmachung. Kennung dd014e1e-5934-4605-a7b8-c02aaad5432e.