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vergebenEU-weitLieferleistungen

Waferprober / Frameprober - PR1252431-2270-W

Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12 · München, Bayern

Aktenzeichen PR1252431-2270-Wveröffentlicht 10.11.2026Offenes Verfahren

Frist im Verfahrenseit 64 Tagen abgelaufen

Bereits vergeben. Das läuft gerade

Offene Ausschreibungen derselben Leistung im Gebiet München.

Alle Ausschreibungen: Lieferleistungen in Bayern (436 offen)

Auf einen Blick

Art des Auftrags
keine Angabe
Geschätzter Wert
keine Angabe
Laufzeit
keine Angabe
Lose
1
Verfahren
Offenes VerfahrenEU-weit
Rahmenvereinbarung
keine Angabe
Ort der Leistung
München80686, Bayern
Einreichung
keine Angabe
Zu dieser Meldung liegen keine strukturierten Angaben aus eForms vor. Maßgeblich ist die Originalbekanntmachung.

Einordnungvon uns ausgewertet

Wer darf bieten?

Alle interessierten Unternehmen dürfen ein Angebot abgeben.

Wird verhandelt?

Es wird nicht verhandelt. Gewertet wird das Angebot so, wie es eingereicht wurde.

Was jetzt zu tun ist

Kein Angebot mehr möglich. Wer gewonnen hat und wie viele Angebote eingingen, steht unter Zuschläge; für Folgeaufträge lohnt der Blick auf Laufzeit und Vergabestelle.

Das Verfahren ist abgeschlossen; diese Meldung nennt das Ergebnis.

Bei dieser Vergabestelle vergehen von der ersten Meldung bis zum Ergebnis im Mittel 82 Tage (356 Verfahren, 24 Monate).

Sie erhält im Median 1 Angebot je Los (748 Lose mit Angabe).

Die Gewichtung von Preis und Leistung steht nicht in der Bekanntmachung, nur in den Vergabeunterlagen.

Unterlagen schon heruntergeladen? Vergabeunterlagen prüfen (Team): Fristen, Gewichtung, Mengen, Zertifikate und Fehler im Preisblatt.

Fristen und TermineStand 11.11.2026

  1. Veröffentlichung
    vor 1 Tag
  2. Heute

Beschreibung

Waferprober / Frameprober

Beschreibung des Loses

This specification describes the requirements for a wafer prober system to be used for post-silicon verification, characterization and functional test of integrated circuits and chiplets at Fraunhofer EMFT. The wafer prober system must be able to handle 200mm and 300mm wafers and in addition wafers mounted on a dicing frame (frame prober function). This allows a very flexible usage for different analysis and test situations. The wafer prober will be coupled with an automated test system (ATE).

Gegenstand nach CPV

AuftraggeberZur Seite der Vergabestelle

Name
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
Anschrift
80686 München
Kontakt
keine Angabe

Bei uns erfasst

3.252Bekanntmachungen
1.270Zuschlagsmeldungen

Alle Ausschreibungen und Zuschläge dieser Vergabestelle

Wer hat das zuletzt gewonnen?

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Marktumfeldvon uns ausgewertet

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19vergebene Aufträge
1,5Angebote je Los im Median (18 Lose mit Angabe)
–Zuschlagswert bei nur 1 Meldungen plausibel angegeben

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Preise und WettbewerbPremium

Verlauf des Verfahrens2 Meldungen

  1. Vergabebekanntmachung (diese Seite)
  2. BekanntmachungFrist 07.09.2026

Berichtigte Fassungen bleiben aufrufbar. Die Suche zeigt je Verfahren nur die aktuelle.

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Quelle: Bekanntmachungsservice des Bundes (oeffentlichevergabe.de), Lizenz CC0. Stand der Daten: 11.11.2026. Maßgeblich ist allein die Originalbekanntmachung. Kennung 65e599f2-a5ee-4455-ac73-86bdfa416034.