Tieftemperatur Ultrahochvakuum Rastersondenmikroskop

Geplante Beschaffung eines Tieftemperatur Ultrahochvakuum Rastersondenmikroskops mit beidseitigem optischen Zugang. Die geplante Anwendung stellt sehr hohe Ansprüche an die Stabilität bzgl. Vibrationen und Temperatur, sowie an die Detektionseffizienz optischer Signale aus dem Mikroskop. Zu den wichtigsten Anforderungen gehören: 1. Einkopplung von Licht (sichtbare, nah-infrarote, nah-ultraviolette und Terahertzstrahlung) von zwei Seiten durch zwei sich innerhalb des Mikroskops befindenden Parabolspiegeln. Der Einsatz dispersiver Transmissionsoptiken (z.B. Linsen) ist nicht möglich, um chromatische Aberration bei Änderung der Wellenlänge sowie zeitliche Streckung von Lichtimpulsen zu vermeiden. 2. Detektion von Licht aus dem Mikroskop (sichtbare, nah-infrarote, nah-ultraviolette Strahlung) auf zwei Seiten durch zwei sich innerhalb des Mikroskops befindenden Parabolspiegeln (entsprechen den Spiegeln für Einkopplung von Licht), mit numerischer Apertur > 0.35 3. Verwendung als Rasterkraft- und Rastertunnelmikroskop (AFM und STM) mit qPlus-basierten Sensoren 4. Sensorhalter, die im UHV austauschbar sind, mit mindestens 5 elektrischen Kontakten für die Messung von Strom sowie vertikalen und lateralen Kräften. 5. Die Funktionalität des Mikroskops muss im Feld erwiesen und durch Referenzen ausgewiesener Experten sowohl im Bereich der Rastersondenmikroskopie (speziell Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie), als auch der optischen Mikroskopie jenseits des Beugungslimits belegt sein, um eine schnelle Inbetriebnahme sowie weltweit kompetitive Forschung zu ermöglichen