Rasterkraftmikroskop & Fluoreszenzmikroskop-Kombination zur nanoska-ligen Untersuchung und Manipulation von Bioproben unter BSL2/3 Bedin-gungen

Dieses Gerät wird für synchrone Rasterkraft / Fluoreszenzmikroskopie unter Biosicherheitslevel 2 (BSL 2/3) Bedingungen ausgeschrieben. Das System soll durch die Kombination von Rasterkraftmikroskopie (AFM - Atomic Force Microscopy), hier insbesondere durch die Möglichkeit der direkten nanoskaligen Manipulation (Probenentnahme, Wirkstoffinjektion etc.), in der Lage sein, Oberflächen- und Grenzflächenphänomene von aktiven Bioproben unter realistischen Bedingungen (Luft, Wasserdampf und in Flüssigkeiten) mit nanoskaliger Auflösung zu untersuchen. Das System muss aus einem closed-loop (kapazitiv/induktiv) tip- und sample-scan AFM inklusive entsprechendem Controller und einem invers-aufgebauten optischen Mikroskop (ausgestattet mit einem weiteren, ebenfalls mit dem AFM synchronisierten und softwareseitig angesteuertem Ras-termikroskopie-Tisch) bestehen. Weiterhin muss das System die entsprechenden Pumpen zur Pro-benmanipulation enthalten (analog beispielsweise zu FluidFM Technology, Cytosurge AG, Schweiz) die das Ansaugen von Probenmaterial und/oder die Injektion von Substanzen über spezielle AFM Cantilever mit Nanometer genauer Lokalsierung ermöglicht. Das System muss softwareseitig und mechanisch komplett in das invers aufgebaute optische Mikro-skop integriert sein und eine zukünftige Raman bzw. TERS (tip-enhanced Raman scattering) Erweite-rung ermöglichen. Wobei für Letzteres beispielsweise eine einfache Skriptlösung ausreicht, um vor-handene Spektrometer/CCD Systeme synchron mit dem AFM-System zu triggern (eine Erfassung, Darstellung und Auswertung der Spektren ist nicht notwendig). Zwingend erforderlich ist ein Matching der AFM Aufnahmen und der Rasterkraftmessungen (bei-spielsweise über eine Kalibrierung via Kreuzkorrelation 2. bzw 3. Ordnung), um zuverlässig und reproduzierbar in den mit dem inversen Mikroskop erfassten optischen Fluoreszenz-, Hellfeld- oder Phasenkontrast-Bildern mit dem AFM weiter zu detektieren und insbesondere mit dem FluidFM System nanometer-genau Proben aufzunehmen, bzw. zu manipulieren. Weiterhin muss das System regelmäßige Reinigungs- und Dekontaminationsszyklen, die in BSL 2 und 3 Sicherheitsbereichen anfallen, ohne Schaden überstehen. Hierfür wird ein Nachweis benötigt. Weiteres siehe Anlage 2.