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Gerät für Rasterkraftmikroskopie (AFM atomic force microscopy)

Friedrich-Schiller-Universität Jena · Jena, Thüringen

Aktenzeichen EU-OV/2023-67veröffentlicht 20.06.2023LieferleistungenOffenes Verfahren

Frist im Verfahrenseit 1265 Tagen abgelaufen

Dieses Verfahren ist abgeschlossen oder älter. Die Seite bleibt zur Information erreichbar.

Auf einen Blick

Art des Auftrags
Lieferleistungen
Geschätzter Wert
keine Angabe
Laufzeit
keine Angabe
Lose
1
Verfahren
Offenes VerfahrenEU-weit
Rahmenvereinbarung
keine Angabe
Ort der Leistung
Jena07743, Thüringen
Einreichung
keine Angabe
Diese Bekanntmachung ist eine Kurzmeldung. Laufzeit, Lose, Eignungs- und Zuschlagskriterien stehen nur in den Unterlagen auf der Vergabeplattform.

Einordnungvon uns ausgewertet

Wer darf bieten?

Alle interessierten Unternehmen dürfen ein Angebot abgeben.

Wird verhandelt?

Es wird nicht verhandelt. Gewertet wird das Angebot so, wie es eingereicht wurde.

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Kein Angebot mehr möglich. Wer gewonnen hat und wie viele Angebote eingingen, steht unter Zuschläge; für Folgeaufträge lohnt der Blick auf Laufzeit und Vergabestelle.

Das Verfahren ist abgeschlossen; diese Meldung nennt das Ergebnis.

Bei dieser Vergabestelle vergehen von der ersten Meldung bis zum Ergebnis im Mittel 69 Tage (80 Verfahren, 24 Monate).

Sie erhält im Median 1 Angebot je Los (14 Lose mit Angabe).

Die Gewichtung von Preis und Leistung steht nicht in der Bekanntmachung, nur in den Vergabeunterlagen.

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Fristen und TermineStand 07.11.2026

  1. Veröffentlichung
    vor 41 Monaten
  2. Heute

Beschreibung

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt ein Gerät für die Rasterkraftmikroskopie (AFM - Atomic Force Microscopy) anzuschaffen. Das System soll durch Rasterkraftmikroskopie (unterstützt durch optische Charakterisierung) geeignet sein, Oberflächen und darauf immobilisierte Strukturen mit nanoskaliger Auflösung zu charakterisieren und dabei die Topographie sowie mechanische Eigenschaften lateral aufgelöst sowohl an Luft wie auch in Flüssigkeiten darzustellen. Das System sollte aus einem AFM-Controller, einem AFM-Messkopf einschließlich motorisierter Probenaufnahme und einem inversen optischen Mikroskop bestehen, und die für den Betrieb notwendige Software und Vibrationsisolation beinhalten. weiteres siehe Anlage 2.

Zuschläge

Zuschläge je Los
Zuschlag anAngebote
Bruker Nano GmbH–

AuftraggeberZur Seite der Vergabestelle

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Marktumfeldvon uns ausgewertet

Vergabemeldungen der letzten 24 Monate mit Hauptgegenstand CPV 380 (Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)) in Thüringen. Abgeleitet aus veröffentlichten Bekanntmachungen, keine amtliche Statistik. Zuschlagswerte unter 1.000 € zählen wir als Platzhalter nicht mit.

130vergebene Aufträge
1Angebote je Los im Median (41 Lose mit Angabe)
201.069 €Zuschlagswert im Median
98.085 € – 365.438 €mittlere Hälfte, 78 Werte

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Häufige Zuschlagsempfänger

Preise und WettbewerbPremium

Verlauf des Verfahrens2 Meldungen

  1. Vergabebekanntmachung (diese Seite)
  2. BekanntmachungFrist 22.05.2023

Berichtigte Fassungen bleiben aufrufbar. Die Suche zeigt je Verfahren nur die aktuelle.

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Quelle: Bekanntmachungsservice des Bundes (oeffentlichevergabe.de), Lizenz CC0. Stand der Daten: 04.11.2026. Maßgeblich ist allein die Originalbekanntmachung. Kennung bed0456e-995e-4f11-86c4-ced9a7dd67d4.