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Flugzeit-Massenspektrometrie-System

Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf e.V. · Dresden, Sachsen

Aktenzeichen EUOV2418veröffentlicht 11.11.2024LieferleistungenOffenes Verfahren

Frist im Verfahrenseit 743 Tagen abgelaufen

Dieses Verfahren ist abgeschlossen oder älter. Die Seite bleibt zur Information erreichbar.

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Offene Ausschreibungen derselben Leistung im Gebiet Dresden.

Alle Ausschreibungen: Labor- und Messgeräte in Sachsen (6 offen)

Geplant · Neuausschreibung möglich

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Verlängerungen sind nicht eingerechnet. Ob und wann neu ausgeschrieben wird, entscheidet die Vergabestelle. Die Erkennung einer Neuausschreibung ist eine Schätzung. Weitere auslaufende Verträge

Auf einen Blick

Art des Auftrags
Lieferleistungen
Geschätzter Wert
keine Angabe
Laufzeit
24 Monate
Lose
1
Verfahren
Offenes VerfahrenVgV, EU-weit
Rahmenvereinbarung
nein
Ort der Leistung
Dresden01328, Sachsen
Einreichung
keine Angabe

Schnellprüfung für Bieter

  • Unterlagen frei zugänglichkeine Angabe
  • Elektronische Einreichung verpflichtendkeine Angabe
  • Nebenangebote zugelassenkeine Angabe
  • Mehrere Hauptangebote zugelassenkeine Angabe
  • Laut Auftraggeber für KMU geeignetkeine Angabe
  • Sicherheiten verlangtkeine Angabe
  • Teilnahme vorbehalten (z. B. Werkstätten)keine Angabe
  • E-Rechnung verpflichtendkeine Angabe
  • Vertraulichkeitserklärung verlangtkeine Angabe
  • Elektronische Auktionnein
  • Aus EU-Mitteln finanziertnein
  • Wiederkehrender Auftragkeine Angabe

Einordnungvon uns ausgewertet

Wer darf bieten?

Alle interessierten Unternehmen dürfen ein Angebot abgeben.

Wird verhandelt?

Es wird nicht verhandelt. Gewertet wird das Angebot so, wie es eingereicht wurde.

Was jetzt zu tun ist

Kein Angebot mehr möglich. Wer gewonnen hat und wie viele Angebote eingingen, steht unter Zuschläge; für Folgeaufträge lohnt der Blick auf Laufzeit und Vergabestelle.

Das Verfahren ist abgeschlossen; diese Meldung nennt das Ergebnis.

Bei dieser Vergabestelle vergehen von der ersten Meldung bis zum Ergebnis im Mittel 66 Tage (29 Verfahren, 24 Monate).

Sie erhält im Median 2 Angebote je Los (40 Lose mit Angabe).

Wertung laut Bekanntmachung: Preis 50 %, Leistung und Qualität 50 %.

  • Leistung50 %
  • Preis50 %

Unterlagen schon heruntergeladen? Vergabeunterlagen prüfen (Team): Fristen, Gewichtung, Mengen, Zertifikate und Fehler im Preisblatt.

Mein Angebot ist% teurer als das günstigste.

Das kostet etwa 8,3 von 100 Punkten der Gesamtwertung.

Punktverlust je Mehrpreis
10 % teurer−4,5 Punkte
25 % teurer−10 Punkte
50 % teurer−16,7 Punkte
100 % teurer−25 Punkte

Annahme: Preispunkte = günstigstes Angebot geteilt durch das eigene. Die verbindliche Formel steht in den Vergabeunterlagen.

Fristen und TermineStand 05.11.2026

  1. Veröffentlichung
    vor 24 Monaten
  2. Heute

Beschreibung

Das Vergabeverfahren zielt auf die Beschaffung, Lieferung und betriebsfertigen Installation eines Flugzeit-Massenspektrometrie-Systems (ToF-SIMS: Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) ab.

Beschreibung des Loses

Das ToF-SIMS-System soll zur Erweiterung des Nutzerbetriebs und der Forschung/Entwicklung von neuen Materialien, vorwiegend anorganischer Festkörper, am Ionenstrahlzentrum (IBC) des HZDR eingesetzt werden. Durch die Möglichkeit der oberflächensensitiven Elementanalyse mit einer lateralen Auflösung von kleiner 200 nm soll es die am IBC vorhandene bildgebende Analytik erweitern. Die Quantifizierung der Elementanalytik soll zusätzlich durch Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) gewährleistet werden. Das System wird deshalb an ein Ionenstrahlkanal des 6 MV Tandem-Beschleunigers im IBC installiert werden. Zudem wird ein mechanisches Transfersystem benötigt um den Probenhalter des Systems in eine externe Messkammer, die nicht Teil des Angebotes ist, zu transferieren, ohne dabei das Vakuum zu unterbrechen. Letztere Kammer hat eine Höhe von 154 cm über dem Boden und wird sich in ca. 2 m Entfernung von der ToF-SIMS Analysekammer befinden und über einen CF-160 Strandard-Flansch verfügen.

Mit dem ToF-SIMS-System sind folgende analytische Aufgaben zu bearbeiten: chemische Analyse von Oberflächen und von Schichten. Die chemische Analyse erfolgt durch Detektion der emittierten Sekundärionen, die durch einen Primärionenstrahl von der Oberfläche herausgelöst wurden (gesputtert/zerstäubt). Der Primärionenstrahl ist feinfokussiert und wird durch ein elektrisches Feld gerastert, wodurch ein ortsaufgelöstes Bild (2D) der chemischen Oberflächezusammensetzung gewonnen werden kann. Zusätzlich soll ein Tiefenprofil der chemischen Zusammensetzung durch die kontinuierliche Abtragung der Probe gemessen werden, wodurch eine 3D chemische Analyses erstellt werden kann. Besondere Anforderungen werden an eine hohe Sensitivität, Dynamik und lateraler Auflösung bzw. Tiefenauflösung des Gerätes gestellt: - Hoher Durchsatz der delektierten Sekundärionen mittels eines Flugzeit-Massenspektrometer - Hohe Massenauflösung durch Verwendung eines Reflektron-Flugzeit-Massenspektrometers und ultraschneller Zählelektronik - Feinfokussierung der Primörionenquelle für hohe laterale Auflösung, mindestens kleiner als 200 nm. - Hohe Detektionsdynamik der Sekundärionen für eine hohe Sensitivität

Gegenstand nach CPV

Bedingungen

Zuschlag2 von 2 angegeben

Leistung50 %
Preis50 %
Qualität
LeistungLeistung zu 50%
Preis
Preis zu 50%

Eignung0 von 2 angegeben

Kriterien
keine Angabe
Nachreichen von Unterlagen
keine Angabe

Laufzeit und Umfang4 von 6 angegeben

Vertragsbeginn
keine Angabe
Vertragsende
keine Angabe
Dauer
24 Monate
Verlängerung
Garantiezeitverlängerung auf 2 Jahre.
Optionen
Verlangerung der Garantiezeit von einem auf zwei Jahre.
Rahmenvereinbarung
nein

Angebot und Einreichung0 von 8 angegeben

Elektronische Einreichung
keine Angabe
Einreichung über
keine Angabe
Sprache
keine Angabe
Nebenangebote
keine Angabe
Mehrere Hauptangebote
keine Angabe
Bindefrist
keine Angabe
Angebotsöffnung
keine Angabe
Sicherheiten
keine Angabe

Ausführung1 von 4 angegeben

Vertraulichkeit
keine Angabe
E-Rechnung
keine Angabe
Vorbehaltene Ausführung
keine Angabe
EU-Mittel
Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert

Rechtsschutz3 von 3 angegeben

Nachprüfungsstelle
Vergabekammer des Bundes, Villemombler Straße 76, 53123 Bonn
Fristen für Nachprüfungsanträge
Rechtsbehelfe gemäß § 160 GWB: 1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein; 2) Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse an dem öffentlichen Auftrag oder der Konzession hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 Absatz 6 GWB durch Nichtbeachtung von … ganz lesenRechtsbehelfe gemäß § 160 GWB: 1) Die Vergabekammer leitet ein Nachprüfungsverfahren nur auf Antrag ein; 2) Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse an dem öffentlichen Auftrag oder der Konzession hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 Absatz 6 GWB durch Nichtbeachtung von Vergabevorschriften geltend macht. Dabei ist darzulegen, dass dem Unternehmen durch die behauptete Verletzung der Vergabevorschriften ein Schaden entstanden ist oder zu entstehen droht; 3) Der Antrag ist unzulässig, soweit: (1) Der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von 10 Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 GWB bleibt unberührt, (2) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, (3) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, (4) Mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Absatz 1 Nummer 2. § 134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt.
Beschaffungsübereinkommen (GPA)
fällt darunter

Bezeichnungen aus den amtlichen eForms-Codelisten (EU und eForms-DE). Maßgeblich sind die Vergabeunterlagen.

Zuschläge

Zuschläge je Los
Zuschlag anAngebote
IONTOF GmbH, Münster1

AuftraggeberZur Seite der Vergabestelle

Anschrift
Bautzner Landstraße 400, 01328 Dresden
Website
hzdr.de
Kontakt
vergabe@hzdr.de

Bei uns erfasst

321Bekanntmachungen
59Zuschlagsmeldungen

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Marktumfeldvon uns ausgewertet

Vergabemeldungen der letzten 24 Monate mit Hauptgegenstand CPV 384 (Instrumente zum Prüfen von physikalischen Eigenschaften) in Sachsen. Abgeleitet aus veröffentlichten Bekanntmachungen, keine amtliche Statistik. Zuschlagswerte unter 1.000 € zählen wir als Platzhalter nicht mit.

49vergebene Aufträge
1Angebote je Los im Median (48 Lose mit Angabe)
251.837 €Zuschlagswert im Median
179.603 € – 428.123 €mittlere Hälfte, 22 Werte

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Häufige Zuschlagsempfänger

Preise und WettbewerbPremium

Verlauf des Verfahrens2 Meldungen

  1. Vergabebekanntmachung (diese Seite)
  2. BekanntmachungFrist 22.10.2024

Berichtigte Fassungen bleiben aufrufbar. Die Suche zeigt je Verfahren nur die aktuelle.

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Quelle: Bekanntmachungsservice des Bundes (oeffentlichevergabe.de), Lizenz CC0. Stand der Daten: 04.11.2026. Maßgeblich ist allein die Originalbekanntmachung. Kennung c0d432c3-878c-4ff2-b0f2-2e888dc38f6e.