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Frist abgelaufenEU-weitLabor- und MessgeräteLieferleistungen

FIB-SEM-System

Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. · Köln, Nordrhein-Westfalen

Aktenzeichen 2024 / GV 7585469veröffentlicht 04.01.2024LieferleistungenOffenes Verfahren

Angebotsfristseit 1010 Tagen abgelaufen
Zur Bekanntmachungsubreport.de

Dieses Verfahren ist abgeschlossen oder älter. Die Seite bleibt zur Information erreichbar.

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Alle Ausschreibungen: Labor- und Messgeräte in Nordrhein-Westfalen (35 offen)

Auf einen Blick

Art des Auftrags
Lieferleistungen
Geschätzter Wert
keine Angabe
Laufzeit
keine Angabe
Lose
1
Verfahren
Offenes VerfahrenVgV, EU-weit
Rahmenvereinbarung
nein
Ort der Leistung
Köln51147, Nordrhein-Westfalen
Einreichung
elektronisch: Erforderlichsubreport.de

Schnellprüfung für Bieter

  • Unterlagen frei zugänglichja
  • Elektronische Einreichung verpflichtendja
  • Nebenangebote zugelassennein
  • Mehrere Hauptangebote zugelassennein
  • Laut Auftraggeber für KMU geeignetja
  • Sicherheiten verlangtkeine Angabe
  • Teilnahme vorbehalten (z. B. Werkstätten)nein
  • E-Rechnung verpflichtendja
  • Vertraulichkeitserklärung verlangtkeine Angabe
  • Elektronische Auktionnein
  • Aus EU-Mitteln finanziertnein
  • Wiederkehrender Auftragkeine Angabe

Einordnungvon uns ausgewertet

Wer darf bieten?

Alle interessierten Unternehmen dürfen ein Angebot abgeben.

Wird verhandelt?

Es wird nicht verhandelt. Gewertet wird das Angebot so, wie es eingereicht wurde.

Was jetzt zu tun ist

Unterlagen auf der Vergabeplattform abrufen und das Angebot vollständig bis zur Angebotsfrist abgeben.

Bei dieser Vergabestelle vergehen von der ersten Meldung bis zum Ergebnis im Mittel 81 Tage (4 Verfahren, 24 Monate).

Sie erhält im Median 2,5 Angebote je Los (10 Lose mit Angabe).

Die Gewichtung von Preis und Leistung steht nicht in der Bekanntmachung, nur in den Vergabeunterlagen.

Unterlagen schon heruntergeladen? Vergabeunterlagen prüfen (Team): Fristen, Gewichtung, Mengen, Zertifikate und Fehler im Preisblatt.

Fristen und TermineStand 08.11.2026

  1. Veröffentlichung
    vor 34 Monaten
  2. Angebotsfrist 14:00 Uhr
    nur elektronisch über subreport.de
    vor 33 Monaten
  3. Öffnung der Angebote 14:15 Uhr
    vor 33 Monaten
  4. Heute

Beschreibung

Das FIB-SEM-System vereint eine FIB (focused ion beam)-Einheit und eine SEM (scanning electron microscope)-Einheit in einem Gerät. Die FIB-Einheit wird sowohl zum gezielten Implantieren mit isotopenreinen Ionenarten bzw. Beschießen eines (Diamant-) Substrats mit Ionen als auch zur Erzeugung von kleinen Strukturen mit einer Größe im Mikro- bzw. Nanometerbereich an der Oberfläche des Substrats verwendet. Durch die SEM-Einheit können kleinste Oberflächenstrukturen in der Größenordnung von wenigen Nanometern abgebildet und dadurch charakterisiert werden. Erweitert wird der Funktionsumfang des Geräts durch ein Gas-Injektions-System (GIS) und einen energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS)-Detektor. Das Gerät wird von einer wechselnden Nutzer-gruppe mit unterschiedlichem Erfahrungslevel genutzt.

Beschaffungsgegenstand • Gerät gemäß Spezifikation inkl. Lieferung, Inbetriebnahme und Schulung • Service und Wartung gemäß Spezifikation

Weitere Details zum Erbringen der Leistung sind den Vergabeunterlagen Anlage 03 Leistungsbeschreibung zu entnehmen.

Beschreibung des Loses

Im Innovationszentrum Ulm werden in einem vom DLR zur Verfügung gestellten Reinraum in Zusammenarbeit von Industrie und DLR Quantenprozessoren auf Basis von negativ geladenen NV (nitrogen vacancy)-Zentren in Diamant gebaut. Für die Ausstattung dieses Reinraums werden Großgerätebeschafft, um die Entwicklung eines NV-Zentren-basierten Quantencomputers bestmöglich zu ermöglichen. Im Rahmen dieser Ausschreibung wird ein FIB-SEM-System zur gezielten Erzeugung von NV-Zentren in Diamant, sowie zur Oberflächenbearbeitung und -untersuchung beschafft. Ziel ist es, NV-Zentren im Diamanten möglichst positionsgenau zu erzeugen. Das FIB-SEM-System vereint eine FIB (focused ion beam)-Einheit und eine SEM (scanning electron microscope)-Einheit in einem Gerät. Die FIB-Einheit wird sowohl zum gezielten Implantieren mit isotopenreinen Ionenarten bzw. Beschießen eines (Diamant-) Substrats mit Ionen als auch zur Erzeugung von kleinen Strukturen mit einer Größe im Mikro- bzw. Nanometerbereich an der Oberfläche des Substrats verwendet. Durch die SEM-Einheit können kleinste Oberflächenstrukturen in der Größenordnung von wenigen Nanometern abgebildet und dadurch charakterisiert werden. Erweitert wird der Funktionsumfang des Geräts durch ein Gas-Injektions-System (GIS) und einen energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS)-Detektor. Das Gerät wird von einer wechselnden Nutzer-gruppe mit unterschiedlichem Erfahrungslevel genutzt. Beschaffungsgegenstand • Gerät gemäß Spezifikation inkl. Lieferung, Inbetriebnahme und Schulung • Service und Wartung gemäß Spezifikation

Weitere Details können den Vergabeunterlagen Anlage 03 Leistungsbeschreibung entnommen werden.

Gegenstand nach CPV

Bedingungen

Zuschlag2 von 2 angegeben

Preis
Preis; vgl. auch Wertungsmatrix der Anlage 06 der Vergabeunterlagen.60
Qualität
Qualität; vgl. auch Wertungsmatrix der Anlage 06 der Vergabeunterlagen.40

Eignung11 von 11 angegeben

Kriterium
Beim Einreichen der Unterlagen ist ein Handelsregisterauszug oder ein gleichwertiger Nachweis nicht älter als 3 Monate einzureichen.
Kriterium
Beim Einreichen der Unterlagen ist eine Berufshaftpflichtversicherung nachzuweisen oder ein Nachweis, dass diese bei Zuschlagserteilung über die angegebene Höhe abgeschlossen wird. Der Nachweis darf nicht älter als 3 Monate sein. Die Höhe für Personenschäden beträgt EUR 3 Mio.; die Höhe für Sachschäden beträgt EUR 3 Mio.
Kriterium
genannt
Kriterium
genannt
Kriterium
genannt
Kriterium
genannt
Kriterium
genannt
Kriterium
genannt
Kriterium
genannt
Nachreichen von Unterlagen
Die Nachforderung von Erklärungen, Unterlagen und Nachweisen ist nicht ausgeschlossen.
Ausschlussgründe
Verstöße gegen arbeitsrechtliche Verpflichtungen, Verstöße gegen sozialrechtliche Verpflichtungen, Wettbewerbsbeschränkende Vereinbarungen

Laufzeit und Umfang1 von 5 angegeben

Vertragsbeginn
keine Angabe
Vertragsende
keine Angabe
Verlängerung
keine Angabe
Optionen
keine Angabe
Rahmenvereinbarung
nein

Angebot und Einreichung7 von 9 angegeben

Elektronische Einreichung
Erforderlich
Einreichung über
subreport.de
Sprache
Deutsch
Nebenangebote
Nicht zulässig
Mehrere Hauptangebote
Nicht zulässig
Elektronischer Katalog
Nicht zulässig
Bindefrist
keine Angabe
Angebotsöffnung
01.02.2024, 14:15 Uhr
Sicherheiten
keine Angabe

Ausführung5 von 6 angegeben

Vertraulichkeit
keine Angabe
E-Rechnung
Erforderlich
Elektronische Bestellung
wird genutzt
Elektronische Zahlung
wird genutzt
Vorbehaltene Ausführung
Nein
EU-Mittel
Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert

Rechtsschutz3 von 3 angegeben

Nachprüfungsstelle
Vergabekammer des Bundes, Villemombler Strasse 76, 53123 Bonn
Fristen für Nachprüfungsanträge
Nach § 160 Abs. 3 S. 1 Nr. 1 bis 4 GWB ist der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens unzulässig, soweit • der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist v … ganz lesenNach § 160 Abs. 3 S. 1 Nr. 1 bis 4 GWB ist der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens unzulässig, soweit • der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von zehn Kalendertagen gerügt hat, • Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, • Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, • mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht ab-helfen zu wollen, vergangen sind. Nach § 135 Abs. 2 GWB endet die Frist, mit der die Unwirksamkeit eines Vertrages in einem Nach-prüfungsverfahren geltend gemacht werden kann, 30 Kalendertage nach der Information der betroffenen Bieter und Bewerber durch den öffentlichen Auftraggeber über den Abschluss des Vertrags, jedoch nicht später als sechs Monate nach Vertragsschluss. Im Falle der Veröffentlichung der Bekanntmachung der Auftragsvergabe im Amtsblatt der Europäischen Union endet die Frist 30 Kalendertage nach dieser Veröffentlichung.
Beschaffungsübereinkommen (GPA)
fällt nicht darunter

Zusätzliche Informationen1 von 1 angegeben

Hinweis
#Besonders geeignet für:freelance#, #Besonders geeignet für:selbst#, #Besonders geeignet für:startup#

Bezeichnungen aus den amtlichen eForms-Codelisten (EU und eForms-DE). Maßgeblich sind die Vergabeunterlagen.

AuftraggeberZur Seite der Vergabestelle

Name
Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V.
Art
Zuwendungsempfänger, soweit nichts anderes zutrifft, Bildung
Anschrift
Linder Höhe, 51147 Köln
Website
dlr.de
Kontakt
kein Funktionspostfach angegeben, siehe Originalbekanntmachung

Bei uns erfasst

440Bekanntmachungen
379Zuschlagsmeldungen

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Marktumfeldvon uns ausgewertet

Vergabemeldungen der letzten 24 Monate mit Hauptgegenstand CPV 380 (Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)) in Nordrhein-Westfalen. Abgeleitet aus veröffentlichten Bekanntmachungen, keine amtliche Statistik. Zuschlagswerte unter 1.000 € zählen wir als Platzhalter nicht mit.

350vergebene Aufträge
1Angebote je Los im Median (185 Lose mit Angabe)
240.910 €Zuschlagswert im Median
216.000 € – 445.595 €mittlere Hälfte, 68 Werte

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Häufige Zuschlagsempfänger

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Quelle: Bekanntmachungsservice des Bundes (oeffentlichevergabe.de), Lizenz CC0. Stand der Daten: 04.11.2026. Maßgeblich ist allein die Originalbekanntmachung. Kennung 53cf6174-1541-45bc-a738-de3f7c28c4ae.