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Atomlagendepositions- und Atomlagenätz- Anlagen

Universität Siegen · Siegen, Nordrhein-Westfalen

Aktenzeichen 03-WIS25E1VVveröffentlicht 16.10.2025LieferleistungenVerhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb

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Art des Auftrags
Lieferleistungen
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keine Angabe
Laufzeit
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Lose
1
Verfahren
Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum WettbewerbVgV, EU-weit
Rahmenvereinbarung
keine Angabe
Einreichung
keine Angabe

Schnellprüfung für Bieter

  • Unterlagen frei zugänglichkeine Angabe
  • Elektronische Einreichung verpflichtendkeine Angabe
  • Nebenangebote zugelassenkeine Angabe
  • Mehrere Hauptangebote zugelassenkeine Angabe
  • Laut Auftraggeber für KMU geeignetkeine Angabe
  • Sicherheiten verlangtkeine Angabe
  • Teilnahme vorbehalten (z. B. Werkstätten)keine Angabe
  • E-Rechnung verpflichtendkeine Angabe
  • Vertraulichkeitserklärung verlangtkeine Angabe
  • Elektronische Auktionkeine Angabe
  • Aus EU-Mitteln finanziertnein
  • Wiederkehrender Auftragkeine Angabe

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Fristen und TermineStand 07.11.2026

  1. Veröffentlichung
    vor 13 Monaten
  2. Heute

Beschreibung

komplementärer Atomlagendepositions- und Atomlagenätz- Anlagen

Beschreibung des Loses

Beschaffung zweier komplementärer Atomlagendepositions- und Atomlagenätzanlagen (inkl. Siliziumtiefenätzen) für den Reinraum der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät der Universität Siegen bestehend aus zwei systemkompatiblen und komplementär ausgestatten Hochvakuumanlagen. Beide Anlagen verfügen über jeweils ein Single Wafer Loadlack für bis zu 200 mm Substrate, die in die Reinraumwand des INCYTE Reinraums der Universität Siegen integriert werden. Das PlasmaPro ASP ALD System der Firma Oxford Instruments erlaubt technologisch sowohl I.) die thermische als auch II.) die plasma-unterstützte chemische Atomlagendeposition (ALD). Die PlasmaPro ASP verfügt über eine 13.56 MHz RF-Plasmaquelle, separat beheizbare innere und äußere Kammerwände, eine präzise steuerbare Plasmaleistung im Bereich zwischen 50 W und 600 W zur minimal-invasiven Beschichtung und geringer Aufheizung der Proben und Plasma-Strike Zeiten <100 ms mit sowie minimalen Zykluszeiten <1 s für eine minimale Plasmainteraktion und chemische Reaktion mit dem Zielsubstrat. Speziell die Plasmainteraktionszeit (Strike Zeit) <100 ms ist essentiell für die Entwicklung von schädigungsarmen Abscheidungsprozessen auf hochempfindlichen 2D-Materialien und Quantendots für elektronische/sensorische Anwendungen. Die hochpräzise, atomlagengenaue Prozesskontrolle erfolgt in-situ mittels motorisiertem Wollam M-2000V-370 insitu Ellipsometer inklusive Software und einem Wellenlängenbereich von 370-1000nm mit 390 Wellenlängen in der Analyse. Das Ellipsometer zur Schichtdicken- und Schichtqualitätsanalyse mit sub-Angstrom Genauigkeit kann sowohl an die Kammer integriert sowie extern motorisiert mit einer dazugehörigen separaten Ellipsometer-Base genutzt werden. Das zu beschaffende ALD-System ermöglicht Plasma-ALD Prozesse von Al2O3 bei 300°C mit Zykluszeiten < 2 s und damit eine Schichtdickenpräzision von 0.11 nm/Zyklus für diesen essentiellen Prozess. Das komplementär zu beschaffende ICP-RIE System verfügt über die Technologie der Plasma-unterstützten Atomlagenätzung (ALE) inklusive anisotropem Silizium-Tiefenätzen mittels reaktivem Ionenätzen (DRIE) in einem Reaktor. Die ICP-RIE Anlage verfügt über eine integrierte Prozess-Endpunkt Detektion mittels zweier unabhängiger Methoden jeweils integriert in die Softwareumgebung: I) Laserendpunktdetektion mittels Horiba 670 nm Laserinterferometer inkl. motorisierter XY-Psotionierung zur präzisen Detektion der Ätztiefe und Ätzrate sowie II) integriertem Spektrometer (220-1050nm) zur optischen Endpunktdetektion mittels Farbzusammensetzungsänderung des Ätzplasmas.

Bedingungen

Zuschlag1 von 1 angegeben

Qualität
Gewichtung (Punkte, genau) 100In nahezu jeder Prozessabfolge werden das ALD und das ALE/RIE System sequenziell nacheinander angewendet. Um diese verwandten Prozesse vollständig einheitlich und nutzerfreundlich zu gestalten, müssen die Systeme auf kompatiblen Software- und Bedienkonzepten basieren. Das System enthält eine patentierte und notwendige Plasmaquelle (EP 3 794 628 B1, Internationale Publikationsnummer: WO 2020/070482), die durch die spezielle Array Anordnung der vertikalen Elektroden das notwendige Plasma homogenverteilt oberhalb des Substrates erzeugt mit minimalinvasivem Einfluss auf das Zielsubstrat. Es muss minimale Defektdichte und Substratbeeinflussung, bei gleichzeitig maximaler Schichtqualität, Schichthomogenität (200 mm Wafer: +/-1,5 % Al2O3, +/-3 % TiO2, 1,5 % HfO2) und sehr hohe Abscheideraten von >200 nm/h (Al2O3), > 45 nm/h (TiO2) und > 78 nm/h (HfO2) gewährleistet werden.

Eignung0 von 2 angegeben

Kriterien
keine Angabe
Nachreichen von Unterlagen
keine Angabe

Laufzeit und Umfang0 von 5 angegeben

Vertragsbeginn
keine Angabe
Vertragsende
keine Angabe
Verlängerung
keine Angabe
Optionen
keine Angabe
Rahmenvereinbarung
keine Angabe

Angebot und Einreichung0 von 8 angegeben

Elektronische Einreichung
keine Angabe
Einreichung über
keine Angabe
Sprache
keine Angabe
Nebenangebote
keine Angabe
Mehrere Hauptangebote
keine Angabe
Bindefrist
keine Angabe
Angebotsöffnung
keine Angabe
Sicherheiten
keine Angabe

Ausführung1 von 4 angegeben

Vertraulichkeit
keine Angabe
E-Rechnung
keine Angabe
Vorbehaltene Ausführung
keine Angabe
EU-Mittel
Auftragsvergabeprojekt nicht aus EU-Mitteln finanziert

Rechtsschutz3 von 3 angegeben

Nachprüfungsstelle
Vergabekammer Westfalen bei der Bezirksregierung Münster, Albrecht-Thaer-Str. 9, 48128 Münster
Fristen für Nachprüfungsanträge
Statthafte Rechtsbehelfe sind gem. §§ 160 ff. GWB die Rüge sowie der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens vor der zuständigen Vergabekammer. Eine Rüge ist an die Vergabestelle zu richten. Eine Rüge bzw. der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens ist unzulässig, soweit - der … ganz lesenStatthafte Rechtsbehelfe sind gem. §§ 160 ff. GWB die Rüge sowie der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens vor der zuständigen Vergabekammer. Eine Rüge ist an die Vergabestelle zu richten. Eine Rüge bzw. der Antrag auf Einleitung eines Nachprüfungsverfahrens ist unzulässig, soweit - der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von zehn Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 bleibt unberührt, - Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden, - Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden oder - mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind. Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Absatz 1 Nummer 2. § 134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt.
Beschaffungsübereinkommen (GPA)
fällt nicht darunter

Zusätzliche Informationen1 von 1 angegeben

Hinweis
#Bekanntmachungs-ID: CXPNY56DPFT#

Bezeichnungen aus den amtlichen eForms-Codelisten (EU und eForms-DE). Maßgeblich sind die Vergabeunterlagen.

AuftraggeberZur Seite der Vergabestelle

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350vergebene Aufträge
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240.910 €Zuschlagswert im Median
216.000 € – 445.595 €mittlere Hälfte, 68 Werte

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Quelle: Bekanntmachungsservice des Bundes (oeffentlichevergabe.de), Lizenz CC0. Stand der Daten: 03.11.2026. Maßgeblich ist allein die Originalbekanntmachung. Kennung 882b0c4b-2b03-456d-91b7-2f4345dfa62e.